[发明专利]检测电路、显示面板及检测方法

权利要求书

1.一种检测电路，应用于显示面板，其特征在于，包括：

多个薄膜晶体管；

第一金属线，包括多条第一子金属线，每一第一子金属线与相邻两薄膜晶体管中的一薄膜晶体管的源极，以及另一薄膜晶体管的漏极连接；

多条第二金属线，每一条所述第二金属线与一个所述薄膜晶体管的栅极连接；和

第三金属线，所述第三金属线与所有的第二金属线连接，所述第二金属线的延展性小于所述第一金属线和所述第三金属线的延展性；

在所述第三金属线接入控制信号时，根据所述第一金属线或所述第三金属线两端的电阻值判断所述第一金属线、所述第二金属线及所述第三金属线是否断裂。

2.根据权利要求1所述的检测电路，其特征在于，所述第一金属线和所述第三金属线的排列方向相同；

所有的第二金属线位于所述第一金属线和所述第三金属线之间。

3.根据权利要求1所述的检测电路，其特征在于，所述第一金属线的延展性与所述第三金属线的延展性相同。

4.根据权利要求1至3任一项所述的检测电路，其特征在于，所述第二金属线采用a-Si、poly Si和IGZO中的一种材料。

5.一种显示面板，其特征在于，所述显示面板包括检测电路，所述检测电路为如权利要求1至4任一项所述的检测电路。

6.一种检测方法，应用于检测电路，其特征在于，所述检测电路包括：

多个薄膜晶体管；

第一金属线，包括多条第一子金属线，每一第一子金属线与相邻两薄膜晶体管中的一薄膜晶体管的源极，以及另一薄膜晶体管的漏极连接；

多条第二金属线，每一条所述第二金属线与一个所述薄膜晶体管的栅极连接；和

第三金属线，所述第三金属线与所有的第二金属线连接，所述第二金属线的延展性小于所述第一金属线和所述第三金属线的延展性，

所述方法包括：

接入控制信号到所述第三金属线，以开启所有的薄膜晶体管，使得所述第一金属线、所述第二金属线及所述第三金属线连通；

获取所述第一金属线或所述第三金属线两端的电阻值；

根据所述电阻值判断所述第一金属线、所述第二金属线及所述第三金属线是否断裂。

7.根据权利要求6所述的检测方法，其特征在于，所述根据所述电阻值判断所述第一金属线、所述第二金属线及所述第三金属线是否断裂，包括：

当所述电阻值处于第一阻值区间内时，确定所述第二金属线断裂、所述第一金属线和所述第三金属线未断裂。

8.根据权利要求7所述的检测方法，其特征在于，所述方法还包括：

当所述电阻值处于第二阻值区间内时，确定所述第一金属线、所述第二金属线和所述第三金属线均断裂，所述第一阻值区间小于所述第二阻值区间。

9.根据权利要求6至8任一项所述的检测方法，其特征在于，所述控制信号包括控制电压，所述接入控制信号到所述第三金属线之前，还包括：

获取所述薄膜晶体管的类型；

所述接入控制信号到所述第三金属线，包括：

当所述薄膜晶体管的类型为第一类型时，接入第一控制电压到所述第三金属线；

当所述薄膜晶体管的类型为第二类型时，接入第二控制电压到所述第三金属线，所述第一控制电压小于所述第二控制电压。

10.根据权利要求6至8任一项所述的检测方法，其特征在于，所述第二金属线采用a-Si、poly Si和IGZO中的一种材料。