[发明专利]检测电路、显示面板及检测方法

说明书

本申请提供一种检测电路、显示面板及检测方法，该检测电路包括：多个薄膜晶体管；第一金属线，该第一金属线与所有的薄膜晶体管连接；多条第二金属线，每一条第二金属线与一个薄膜晶体管连接；第三金属线，该第三金属线与所有的第二金属线连接，第二金属线的延展性小于第一金属线和第三金属线的延展性，本申请所提供的检测电路可提高对显示屏是否碎裂进行检测的精准度。

技术领域

本申请涉及一种显示技术，特别涉及一种检测电路、显示面板及检测方法

背景技术

随着诸如智能手机等电子设备的显示屏越来越大，显示屏因为跌落而碎裂的几率越来越大，由于智能手机等电子设备一般采用触摸屏进行感应输入命令或文本等输入操作，当显示屏因跌落而碎裂时，会导致触摸屏输入故障，发生输入错误的现象。

相关技术中，通过在显示屏上放置闭合金属线来检测显示屏是否碎裂。其中，当显示屏碎裂时，金属线随之断裂。然而，当显示屏裂纹较小时，使用上述检测方式无法检测出显示屏碎裂。可见，相关技术中，碎屏检测方式的精准度较低。

发明内容

本申请实施例提供一种检测电路、显示面板及检测方法，可以提高对显示屏是否碎裂进行检测的精准度。

本申请实施例提供一种检测电路，应用于显示面板，包括：

多个薄膜晶体管；

第一金属线，所述第一金属线与所有的薄膜晶体管连接；

多条第二金属线，每一条所述第二金属线与一个所述薄膜晶体管连接；和

第三金属线，所述第三金属线与所有的第二金属线连接，所述第二金属线的延展性小于所述第一金属线和所述第三金属线的延展性。

在本申请实施例所提供的检测电路中，所述第一金属线和所述第三金属线的排列方向相同；

所有的第二金属线位于所述第一金属线和所述第三金属线之间。

在本申请实施例所提供的检测电路中，所述第一金属线的延展性与所述第三金属线的延展性相同。

在本申请实施例所提供的检测电路中，所述第二金属线采用a-Si、poly Si和IGZO中的一种材料。

本申请还提供一种显示面板，所述显示面板包括检测电路，所述检测电路为本申请任一实施例所述的检测电路。

本申请实施例还提供一种检测方法，应用于检测电路，所述检测电路包括：

多个薄膜晶体管；

第一金属线，所述第一金属线与所有的薄膜晶体管连接；

多条第二金属线，每一条所述第二金属线与一个所述薄膜晶体管连接；和

第三金属线，所述第三金属线与所有的第二金属线连接，所述第二金属线的延展性小于所述第一金属线和所述第三金属线的延展性，

所述方法包括：

接入控制信号到所述第三金属线，以开启所有的薄膜晶体管，使得所述第一金属线、所述第二金属线及所述第三金属线连通；

获取所述第一金属线或所述第三金属线两端的电阻值；

根据所述电阻值判断所述第一金属线、所述第二金属线及所述第三金属线是否断裂。

在本申请实施例所提供的检测方法中，所述根据所述电阻值判断所述第一金属线、所述第二金属线及所述第三金属线是否断裂，包括：

当所述电阻值处于第一阻值区间内时，确定所述第二金属线断裂、所述第一金属线和所述第三金属线未断裂。