[发明专利]一种二极管正向压降的测试方法在审
| 申请号： | 202011245124.8 | 申请日： | 2020-11-10 |
| 公开（公告）号： | CN113433443A | 公开（公告）日： | 2021-09-24 |
| 发明（设计）人： | 石永维;杨微;常敏丰 | 申请（专利权）人： | 吉林瑞能半导体有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/26 | 分类号： | G01R31/26 |
| 代理公司： | 吉林新发惠利知识产权代理事务所(普通合伙) 22216 | 代理人： | 纪尚 |
| 地址： | 132013 吉*** | 国省代码： | 吉林;22 |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 一种 二极管 正向 测试 方法 | ||
【权利要求书】：
1.一种二极管正向压降的测试方法，其特征在于包括以下步骤：
第一步：使用探针台测试1安培下的正向压降，设符号：V1；
第二步：测试一半设计安培下的正向压降,设符号:V2；
第三步：测试设计安培下的正向压降,设符号：V3；
通过公式：正向压降VF＝V3-﹝设计安培*(V1+V3-2*V2)/修正参数﹞，计算得到综合的二极管正向压降VF。
2.根据权利要求1所述的一种二极管正向压降的测试方法，其特征在于，所述公式：正向压降VF＝V3-﹝设计安培*(V1+V3-2*V2)/修正参数﹞用于二极管测试正向压降条件为5A及以下的情况使用时，修正参数＝1；用于二极管测试正向压降条件为8A的情况使用时，修正参数＝1.35；用于二极管测试正向压降条件为10A的情况使用时，修正参数＝1.7。
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