[发明专利]物体表面平整度的检测方法、装置、电子装置和存储介质

权利要求书

1.一种物体表面平整度的检测方法，其特征在于，包括：

获取待测物体所在场景的三维点云，并提取所述三维点云中的待测物点云；

根据所述待测物点云获取所述待测物体的待测面的深度图；

根据所述深度图，计算所述深度图中每个点的点云信息、所述深度图中每个点的临近点高度以及所述深度图的外接图形；

根据所述深度图和所述外接图形，获取所述待测面的图形特征值；根据每个点的所述点云信息与每个点的所述临近点高度之间的差异，获取所述待测面的均匀度；

根据所述图形特征值和所述均匀度，获取所述待测面的平整度。

2.根据权利要求1所述的物体表面平整度的检测方法，其特征在于，根据每个点的所述点云信息与每个点的所述临近点高度之间的差异，获取所述待测面的均匀度包括：

将所述深度图划分为预设数量的点云单元；

根据每个点云单元中每个点的点云信息以及临近点高度之间的差值，计算每个所述点云单元的均匀度；所述点云信息包括高度信息；

根据所有所述点云单元的均匀度获取所述待测面的均匀度。

3.根据权利要求2所述的物体表面平整度的检测方法，其特征在于，根据所有所述点云单元的均匀度获取所述待测面的均匀度包括：

将所有所述均匀度中最低的均匀度作为所述待测面的均匀度。

4.根据权利要求1所述的物体表面平整度的检测方法，其特征在于，在所述待测面为矩形的情况下，计算所述待测面的图形特征值包括：

根据所述深度图，计算所述深度图中待测面的面积；

根据所述待测面的面积和所述深度图的最小外接矩形的面积，获取所述待测面的矩形度作为所述图形特征值。

5.根据权利要求1所述的物体表面平整度的检测方法，其特征在于，所述临近点高度的计算方法包括：

在所述深度图中选取一个点作为目标点，获取所述目标点预设范围内的点作为临近点；

根据每个所述临近点的高度信息，得到所述临近点高度。

6.根据权利要求1所述的物体表面平整度的检测方法，其特征在于，根据所述图形特征值和所述均匀度，获取所述待测面的平整度包括：

将所述图形特征值和所述均匀度进行加权计算，获取所述待测面的平整度。

7.根据权利要求1所述的物体表面平整度的检测方法，其特征在于，在计算所述待测面的图形特征值之前，所述方法包括：

将所述待测物点云送入预先训练的神经网络进行分类，获取所述待测物体的待测面的几何形状；

根据所述几何形状确定所述外接图形的几何形状。

8.一种物体表面平整度的检测装置，其特征在于，包括获取模块、计算模块和检测模块：

所述获取模块，用于获取待测物体所在场景的三维点云，并提取所述三维点云中的待测物点云，根据所述待测物点云获取所述待测物体的待测面的深度图；

所述计算模块，用于根据所述深度图，计算所述深度图中每个点的点云信息、所述深度图中每个点的临近点高度以及所述深度图的外接图形；根据所述深度图和所述外接图形，获取所述待测面的图形特征值；根据每个点的所述点云信息与每个点的所述临近点高度之间的差异，获取所述待测面的均匀度；

所述检测模块，用于根据所述图形特征值和所述均匀度，获取所述待测面的平整度。

9.一种电子装置，包括存储器和处理器，其特征在于，所述存储器中存储有计算机程序，所述处理器被设置为运行所述计算机程序以执行权利要求1至7中任一项所述的物体表面平整度的检测方法。

10.一种存储介质，其特征在于，所述存储介质中存储有计算机程序，其中，所述计算机程序被设置为运行时执行权利要求1至7中任一项所述的物体表面平整度的检测方法。