[发明专利]物体表面平整度的检测方法、装置、电子装置和存储介质

说明书

本申请涉及一种物体表面平整度的检测方法、装置、电子装置和存储介质，其中，该物体表面平整度的检测方法包括：获取待测物体所在场景的三维点云，并提取三维点云中的待测物点云，根据待测物点云获取待测物体的待测面的深度图，根据深度图，计算深度图中每个点的点云信息、深度图中每个点的临近点高度以及深度图的外接图形，根据深度图、每个点的点云信息、每个点的临近点高度以及外接图形，计算待测面的图形特征值以及均匀度，根据图形特征值和均匀度，获取待测面的平整度。通过本申请，解决了相关技术中通过实际空间与像素的映射关系对物体进行测量，通用性较低的问题，提高了物体表面平整度检测的场景适用性。

技术领域

本申请涉及计算机视觉技术领域，特别是涉及物体表面平整度的检测方法、装置、电子装置和存储介质。

背景技术

随着互联网购物的快速扩张，物流包裹的吞吐量呈现出了几何式的增长。对于物流企业来说，在包裹的运输成本当中，重量只是其中的一小部分，如果可以对包裹体积进行合理的安排，可以为物流企业节约大量空间，减少运输成本。为了实现对包裹的合理安排，在包裹的实际测量中，除了关注包裹的长、宽、高、实际体积之外，还关注包裹等物体表面的平整性。

在相关技术中，获取包裹等物体的空间参数可以通过物体的实际空间尺寸与像素尺寸之间的映射关系实现，但是在通过实际空间与像素的映射关系对物体参数进行测量的情况下，一旦物体的高度发生改变，就需要重新建立映射关系，通用性较低。

目前针对相关技术中通过实际空间与像素的映射关系对物体进行测量，通用性较低的问题，尚未提出有效的解决方案。

发明内容

本申请实施例提供了一种物体表面平整度的检测方法、装置、电子装置和存储介质，以至少解决相关技术中通过实际空间与像素的映射关系对物体进行测量，通用性较低的问题。

第一方面，本申请实施例提供了一种物体表面平整度的检测方法，包括：

获取待测物体所在场景的三维点云，并提取所述三维点云中的待测物点云；

根据所述待测物点云获取所述待测物体的待测面的深度图；

根据所述深度图，计算所述深度图中每个点的点云信息、所述深度图中每个点的临近点高度以及所述深度图的外接图形；

根据所述深度图、所述每个点的点云信息、每个点的临近点高度以及外接图形，计算所述待测面的图形特征值以及均匀度；

根据所述图形特征值和所述均匀度，获取所述待测面的平整度。

在其中一些实施例中，根据所述深度图、所述每个点的点云信息、每个点的临近点高度以及外接图形，计算所述待测面的图形特征值以及均匀度包括：

根据所述深度图和所述外接图形，获取所述待测面的图形特征值；

根据每个点的所述点云信息与每个点的所述临近点高度之间的差异，获取所述待测面的均匀度。

在其中一些实施例中，根据每个点的所述点云信息与每个点的所述临近点高度之间的差异，获取所述待测面的均匀度包括：

将所述深度图划分为预设数量的点云单元；

根据每个点云单元中每个点的点云信息以及临近点高度之间的差值，计算每个所述点云单元的均匀度；所述点云信息包括高度信息；

根据所有所述点云单元的均匀度获取所述待测面的均匀度。

在其中一些实施例中，根据所有所述点云单元的均匀度获取所述待测面的均匀度包括：

将所有所述均匀度中最低的均匀度作为所述待测面的均匀度。

在其中一些实施例中，在所述待测面为矩形的情况下，计算所述待测面的图形特征值包括：