[发明专利]推力光学检测装置在审
申请号: | 202011249947.8 | 申请日: | 2020-11-10 |
公开(公告)号: | CN112427333A | 公开(公告)日: | 2021-03-02 |
发明(设计)人: | 刘日传;沈新明;杨俊 | 申请(专利权)人: | 苏州领裕电子科技有限公司 |
主分类号: | B07C5/34 | 分类号: | B07C5/34;B07C5/342;B07C5/36 |
代理公司: | 北京商专润文专利代理事务所(普通合伙) 11317 | 代理人: | 陈平 |
地址: | 215000 江苏省*** | 国省代码: | 江苏;32 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 推力 光学 检测 装置 | ||
1.推力光学检测装置,其特征在于,包括推力机构(1)、视觉检测机构(2)、排废机构(3)与顶切机构(4);
所述推力机构(1)能够对工件进行推力测试;
所述视觉检测机构(2)对推力测试后的工件进行变形检测;
所述排废机构(3)与顶切机构(4)能够配合的对变形的工件进行切断并移除。
2.根据权利要求1所述推力光学检测装置,其特征在于,所述推力机构(1)包括推力电缸(11)与压块(12),所述推力电缸(11)能够驱动所述压块(12)与工件相抵,从而进行推力测试。
3.根据权利要求1所述推力光学检测装置,其特征在于,所述视觉检测机构(2)包括检测治具(23)与光源(22),所述检测治具(23)设有检测光道(230),所述检测光道(230)的下方设有摄像机(21)。
4.根据权利要求3所述推力光学检测装置,其特征在于,所述检测治具(23)包括上治具(231)与下治具(232),所述上治具(231)与所述下治具(232)均设有组成所述检测光道(230)的通孔,所述检测光道(230)设有限位块(230a)。
5.根据权利要求3所述推力光学检测装置,其特征在于,所述视觉检测机构(2)还包括光源(22),所述光源(22)设于所述检测治具(23)的一侧。
6.根据权利要求1所述推力光学检测装置,其特征在于,所述排废机构(3)包括真空吸附治具(31),所述真空吸附治具(31)与升降组件(33)驱动,所述升降组件(33)与平移组件(32)驱动连接。
7.根据权利要求1所述推力光学检测装置,其特征在于,所述顶切机构(4)包括顶针(42)、顶切动力部(41)与顶切平台(43);
所述顶针(42)与所述顶切动力部(41)驱动连接,所述顶针(42)能够自由穿过所述顶切平台(43)。
8.根据权利要求1所述推力光学检测装置,其特征在于,还包括拉料机构(5),所述拉料机构(5)设有拉料辊组(51),所述拉料机构(5)能够驱动工件进给。
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