[发明专利]一种基于面积比的剔除细小残留物的胶粘薄膜褶皱缺陷检测方法

权利要求书

1.一种基于面积比的剔除细小残留物的胶粘薄膜褶皱缺陷检测方法，其特征在于，包括如下步骤：

步骤1：以红色同轴光作为光源，获取带有褶皱缺陷的胶粘薄膜图片，此图片为单通道灰度图；

步骤2：所述胶粘薄膜褶皱缺陷检测方法，提取感兴趣区域，包括褶皱、细小白色残留物料、以及胶粘薄膜轮廓；

步骤3：所述胶粘薄膜褶皱缺陷检测方法，剔除胶粘薄膜轮廓，只保留褶皱、细小白色残留物料区域；

步骤4：所述胶粘薄膜褶皱缺陷检测方法，提取褶皱，剔除细小白色残留物料。

2.根据权利要求1所述的一种基于面积比的剔除细小残留物的胶粘薄膜褶皱缺陷检测方法，其特征在于，所述步骤2中：

所述处理方法包括如下步骤：

步骤2.1：将带有褶皱缺陷的胶粘薄膜图片通过sobel算子进行边缘提取，sobel算子可以识别像素突变的部分，即褶皱、细小白色残留物料、以及胶粘薄膜轮廓这三部分感兴趣区域；

步骤2.2：对步骤2.1所得灰度图进行二值化，得到褶皱、细小白色残留物料、以及胶粘薄膜轮廓这三部分的二值图；

步骤2.3：对步骤2.2所得二值图进行形态学开运算，使用半径为1像素的圆形模板，剔除干扰像素点。

3.根据权利要求1所述的一种基于面积比的剔除细小残留物的胶粘薄膜褶皱缺陷检测方法，其特征在于，所述步骤3中：

所述处理方法包括如下步骤：

步骤3.1：对步骤1所得带有褶皱缺陷的胶粘薄膜灰度图进行固定阈值分割，剔除背景区域，得到胶粘薄膜区域的二值图；

步骤3.2：对步骤3.1所得二值图进行形态学腐蚀运算，采用7像素半径的圆形模板，可以腐蚀掉胶粘薄膜二值图的边缘部分；

步骤3.3：步骤2所得二值图包含褶皱、细小白色残留物料、以及胶粘薄膜轮廓这三部分，步骤3.2所得二值图是去除了边缘轮廓的胶粘薄膜区域，对这两者取交集，剔除步骤2中胶粘薄膜轮廓，保留褶皱和细小白色残留物料区域。

4.根据权利要求1所述的一种基于面积比的剔除细小残留物的胶粘薄膜褶皱缺陷检测方法，其特征在于，所述步骤4中：

所述处理方法包括如下步骤：

步骤4.1：步骤3得到了褶皱和细小白色残留物料这两部分区域的二值图，不可避免的，也有一些步骤2.3未剔除的其他像素区域，但是这些区域面积较小，通过面积进行剔除；

步骤4.2：对步骤4.1得到的二值图进行形态学闭运算，使得离散的褶皱区域可以连接起来，形成面积较大的连通域；

步骤4.3：以步骤4.2所得二值区域为模板，将步骤1所得单通道灰度原图进行域缩减，得到只有褶皱、细小白色残留物料的灰度图；

步骤4.4：对步骤4.3所得灰度图进行动态阈值分割，获取亮色部分细小白色残留物料亮色部分所占面积超过了其所在的连通域面积的90%，通过面积比剔除细小白色残留物料所在的连通域，只保留褶皱所在的连通域；

步骤4.5：以步骤4.4所得二值区域为模板，将步骤1所得单通道灰度原图进行域缩减，得到只有褶皱区域的灰度图。