[发明专利]一种基于面积比的剔除细小残留物的胶粘薄膜褶皱缺陷检测方法

说明书

本发明涉及缺陷检测技术领域，尤其涉及一种基于面积比的剔除细小残留物的胶粘薄膜褶皱缺陷检测方法。胶粘薄膜类产品一般具有很强的反光特性，所以使用同轴光作为褶皱缺陷检测的光源，降低反光性，突出褶皱缺陷。经过不同颜色光源的测试，红色同轴光效果最佳。本发明采用红色同轴光拍摄胶粘薄膜图片，该胶粘薄膜表面存在干扰褶皱缺陷检测的细白塑料毛，细白塑料毛是模切机未切干净所致，属物料残留。细小白色物料残留不属于缺陷，但自适应阈值分割方法也会将其提取出来。由于细小白色残留物料亮色部分面积超过了其所在的连通域面积的90%，所以本发明提出了一种基于面积比的剔除细小残留物的胶粘薄膜褶皱缺陷检测方法，剔除细小白色残留物料所在的连通域，只保留褶皱所在的连通域。避免了细小白色残留物料的干扰，精准检测胶粘薄膜褶皱。

技术领域

本发明涉及缺陷检测技术领域，尤其涉及一种基于面积比的剔除细小残留物的胶粘薄膜褶皱缺陷检测方法。

背景技术

胶粘薄膜产品在电子行业应用非常广泛，品类繁多，形状各异，缺陷种类也数不胜数。其产品质量的检测是目前行业的难点，褶皱是该类产品缺陷中的一种，市场对胶粘薄膜的褶皱缺陷检测的自动化、智能化需求非常大。

胶粘薄膜的褶皱缺陷的检测，目前大部分是靠人眼判定，对于细小的胶粘薄膜人眼是很难看清褶皱缺陷的。需要工作人员在灯光下，改变胶粘薄膜的角度仔细观察，才能发现轻微的褶皱缺陷。一卷产品上胶粘薄膜有上千片，靠人眼判定，耗时非常大。而且灯光对人眼具有一定的伤害，长期对着灯光检测缺陷，会引发眼部疾病。

本发明提出的一种基于面积比的剔除细小残留物的胶粘薄膜褶皱缺陷检测方法，可以实现自动化、智能化的需求。解决每天数十万片的胶粘薄膜褶皱缺陷检测问题，提升效率，增加效益。

发明内容

本发明的目的是针对现有技术的不足和行业需求，提供一种基于面积比的剔除细小残留物的胶粘薄膜褶皱缺陷检测方法，解决靠人眼每天判定数十万片的胶粘薄膜缺陷的行业痛点，实现自动化、智能化的检测，提高效率。

为实现上述目的，本发明所涉及的一种基于面积比的剔除细小残留物的胶粘薄膜褶皱缺陷检测方法，其包括如下步骤：

步骤1：以红色同轴光作为光源，获取带有褶皱缺陷的胶粘薄膜图片，此图片为单通道灰度图；

步骤2：所述胶粘薄膜褶皱缺陷检测方法，提取感兴趣区域，包括褶皱、细小白色残留物料、以及胶粘薄膜轮廓；

步骤3：所述胶粘薄膜褶皱缺陷检测方法，剔除胶粘薄膜轮廓，只保留褶皱、细小白色残留物料区域；

步骤4：所述胶粘薄膜褶皱缺陷检测方法，提取褶皱，剔除细小白色残留物料。

进一步地，所述步骤2中：

步骤2.1：将带有褶皱缺陷的胶粘薄膜图片通过sobel算子进行边缘提取，sobel算子可以识别像素突变的部分，即褶皱、细小白色残留物料、以及胶粘薄膜轮廓这三部分感兴趣区域；

步骤2.2：对步骤2.1所得灰度图进行二值化，得到褶皱、细小白色残留物料、以及胶粘薄膜轮廓这三部分的二值图。

步骤2.3：对步骤2.2所得二值图进行形态学开运算，使用半径为1像素的圆形模板，剔除干扰像素点。

进一步地，所述步骤3中：

步骤3.1：对步骤1所得带有褶皱缺陷的胶粘薄膜灰度图进行固定阈值分割，剔除背景区域，得到胶粘薄膜区域的二值图。

步骤3.2：对步骤3.1所得二值图进行形态学腐蚀运算，采用7像素半径的圆形模板，可以腐蚀掉胶粘薄膜二值图的边缘部分。

步骤3.3：步骤2所得二值图包含褶皱、细小白色残留物料、以及胶粘薄膜轮廓这三部分，步骤3.2所得二值图是去除了边缘轮廓的胶粘薄膜区域。对这两者取交集，剔除步骤2中胶粘薄膜轮廓，保留褶皱和细小白色残留物料区域。

更进一步地，所述步骤4中：