[发明专利]芯片工作电压控制方法、装置、处理芯片及服务器

权利要求书

1.一种芯片工作电压控制方法，其特征在于，包括：

获取芯片的多组测试数据，其中，一组芯片测试数据中包括电源电压值以及与所述电源电压值对应的电源监测参数；

根据所述多组测试数据对电源监测参数与电源电压值之间的关系进行双指数拟合，得到拟合参数；

根据所述拟合参数控制所述芯片的工作电压。

2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，根据所述拟合参数控制所述芯片的工作电压，包括：

确定所述芯片上的CPU核的目标工作频率；

根据所述目标工作频率与所述芯片的工作电压的关系确定出目标电源监测参数；

根据所述拟合参数以及所述目标电源监测参数计算出所述芯片的工作电压。

3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，根据所述拟合参数以及所述目标电源监测参数计算出所述芯片的工作电压，包括：

根据所述拟合参数以及所述目标电源监测参数根据双指数函数计算出所述芯片的工作电压。

4.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述多组芯片测试数据为四组。

5.根据权利要求1至4任一项所述的方法，其特征在于，所述方法还包括：

在根据所述多组测试数据对电源监测参数与电源电压值之间的关系进行双指数拟合，得到拟合参数之后，将所述拟合参数存储至所述芯片的固件中。

6.一种芯片工作电压控制装置，其特征在于，包括：

获取模块，被配置为获取芯片的多组测试数据，其中，一组芯片测试数据中包括电源电压值以及与所述电源电压值对应的电源监测参数；

拟合模块，被配置为根据所述多组测试数据对电源监测参数与电源电压值之间的关系进行双指数拟合，得到拟合参数；

控制模块，被配置为根据所述拟合参数控制所述芯片的工作电压。

7.根据权利要求6所述的装置，其特征在于，所述控制模块包括：

第一确定单元，被配置为确定所述芯片上的CPU核的目标工作频率；

第二确定单元，被配置为根据所述目标工作频率与所述芯片的工作电压的关系确定出目标电源监测参数；

计算单元，被配置为根据所述拟合参数以及所述目标电源监测参数计算出所述芯片的工作电压。

8.根据权利要求7所述的装置，其特征在于，所述计算单元被配置为：

根据所述拟合参数以及所述目标电源监测参数根据双指数函数计算出所述芯片的工作电压。

9.根据权利要求6所述的装置，其特征在于，所述多组芯片测试数据为四组。

10.根据权利要求6至9任一项所述的装置，其特征在于，所述装置还包括：

存储模块，被配置为根据所述多组测试数据对电源监测参数与电源电压值之间的关系进行双指数拟合，得到拟合参数，将所述拟合参数存储至所述芯片的固件中。

11.一种处理器芯片，其特征在于，包括：至少一个处理器核心、缓存；

所述处理器核，用于执行权利要求1-5中任一项所述的芯片工作电压控制方法。

12.一种服务器，其特征在于，包括：

壳体、处理器、存储器、电路板和电源电路，其中，电路板安置在壳体围成的空间内部，处理器、存储器和电源电路集成在芯片上，封装后的芯片设置在所述电路板上；其中，电源电路，用于为所述服务器的各个电路或器件供电；存储器用于存储可执行程序代码和相关参数；所述处理器通过读取存储器中存储的可执行程序代码来运行与可执行程序代码对应的程序并调用所述相关参数，用于执行权利要求1-5中任一项所述的芯片工作电压控制方法。