[发明专利]芯片工作电压控制方法、装置、处理芯片及服务器

说明书

本发明一个或多个实施例公开了一种芯片工作电压控制方法、装置、处理芯片及服务器，其中，芯片工作电压控制方法包括：获取芯片的多组测试数据，其中，一组芯片测试数据中包括电源电压值以及与所述电源电压值对应的电源监测参数；根据所述多组测试数据进行双指数拟合，得到拟合参数；根据所述拟合参数控制所述芯片的工作电压，该方法可降低电源监测参数与电源电压值之间的关系拟合的误差，提高拟合精度。

技术领域

本发明涉及集成电路制造及应用技术领域，尤其涉及一种芯片工作电压控制方法、装置、处理芯片及服务器。

背景技术

目前，在AVFS(Adaptive Voltage and Frequency Scaling，自适应电压频率调节)电路系统中，通常设置多个PSM(Power supply monitor，电源监测模块)来监控芯片的电压和电源(rvdd)电压。在电路系统的设计中，电源并非直接为CPU(Central ProcessingUnit，中央处理器)芯片供电，而是需要DLDO(Digital Low-Dropout，数字低压差稳压器)动态调节芯片的电压，所以不能直接建立芯片的工作频率和电压的对应关系，而是以监控芯片的PSM参数作为桥梁，建立F2P(Frequency vs.PSM，频率与电源监测参数)的关系，P2V(PSM vs.Voltage，电源监测参数与电源电压值)的关系，间接实现了F2V(Frequencyvs.Voltage，频率与电源电压值)的关系。在早期的ATE(Automatic Test Equipment，自动测试设备)测试中，仅测试了三个指定的电源电压值来采集芯片的工作频率和PSM参数，并建立联系，F2P和P2V都采用一元二次关系进行拟合，得到拟合曲线。而在P2V拟合计算过程中，由于低电压部分与实际情况不符，会导致拟合曲线在低电压区域存在翘曲现象，从而造成不可信的反馈，这种异常会降低AVFS电路系统的表现甚至降低芯片的性能。之后为了消除拟合曲线的这种翘曲现象，在ATE测试过程中又新增加了一个低电压测试点，仍沿用一元二次关系进行拟合，但拟合曲线的效果仍与实际特性曲线存在明显误差，这种误差会产生冗余的电压(margin)芯片供电，增加不必要的功耗。

发明内容

有鉴于此，本发明一个或多个实施例提供了一种芯片工作电压控制方法、装置、处理芯片及服务器，能够减小电源监测参数与电源电压值之间的关系的拟合误差，提高拟合精度。

本发明一个或多个实施例提供了一种芯片工作电压控制方法，包括：获取芯片的多组测试数据，其中，一组芯片测试数据中包括电源电压值以及与所述电源电压值对应的电源监测参数；根据所述多组测试数据对电源监测参数与电源电压值之间的关系进行双指数拟合，得到拟合参数；根据所述拟合参数控制所述芯片的工作电压。

可选的，根据所述拟合参数控制所述芯片的工作电压，包括：确定所述芯片上的CPU核的目标工作频率；根据所述目标工作频率与所述芯片的工作电压的关系确定出目标电源监测参数；根据所述拟合参数以及所述目标电源监测参数计算出所述芯片的工作电压。

可选的，根据所述拟合参数以及所述目标电源监测参数计算出所述芯片的工作电压，包括：根据所述拟合参数以及所述目标电源监测参数根据双指数函数计算出所述芯片的工作电压。

可选的，所述多组芯片测试数据为四组。

可选的，所述方法还包括：在根据所述多组测试数据对电源监测参数与电源电压值之间的关系进行双指数拟合，得到拟合参数之后，将所述拟合参数存储至所述芯片的固件中。

本发明一个或多个实施例还提供了一种芯片工作电压控制装置，包括：获取模块，被配置为获取芯片的多组测试数据，其中，一组芯片测试数据中包括电源电压值以及与所述电源电压值对应的电源监测参数；拟合模块，被配置为根据所述多组测试数据对电源监测参数与电源电压值之间的关系进行双指数拟合，得到拟合参数；控制模块，被配置为根据所述拟合参数控制所述芯片的工作电压。