[发明专利]无接触光学测试接口

权利要求书

1.一种制造光学测试接口以提供在所述光学测试接口的光纤端面和要测试的光学部件之间的有意的气隙的方法，所述方法包括：

提供沿着光学套管的纵轴延伸的光学测试套管，所述光学测试套管支撑光学测试路径，所述光学测试路径具有能在所述光学测试套管的端面处触及的至少一个路径端面；以及

修改所述光学测试套管的端面，以提供在所述光学测试路径的路径端面与由标准光学接口端接的光纤的端面之间的有意的气隙。

2.根据权利要求1所述的方法，其中，修改所述光学测试套管的端面包括以与垂直于所述光学测试套管的纵轴的参考平面成范围在1度和7度之间的角度抛光所述光学测试套管的端面。

3.根据权利要求2所述的方法，其中，所述角度的范围在与所述参考平面成3度和5度之间。

4.根据权利要求2所述的方法，其中，所述角度为大约4度。

5.根据权利要求1所述的方法，其中，修改所述光学测试套管的端面包括提供从所述光学测试套管的端面延伸的突起，所述突起的尺寸和形状为在所述光学测试路径的路径端面接触标准光学接口的光纤端面之前接触标准光学接口的端面。

6.根据权利要求5所述的方法，其中，提供所述突起包括从所述光学测试套管的端面去除材料并缩短所述光学测试路径，使得所述光学测试路径的路径端面在到达所述突起的远端之前终止。

7.根据权利要求6所述的方法，其中，从所述光学测试套管的端面去除材料包括去除包围所述光学测试路径的材料。

8.根据权利要求6所述的方法，其中，使用激光烧蚀来执行去除材料。

9.根据权利要求1至8中任一项所述的方法，其中，所述光学测试套管是单光纤套管。

10.根据权利要求1至8中任一项所述的方法，其中，所述测试套管是多光纤套管，并且其中，光学测试路径是由所述测试套管支撑的多个光学测试路径中的一个。

11.根据权利要求1至10中任一项所述的方法，其中，光学测试路径包括光学光纤，并且所述路径端面包括所述光学光纤的光纤端面。

12.根据权利要求1至11中任一项所述的方法，其中，所述光学测试接口包括环回插头。

13.根据权利要求1至11中任一项所述的方法，其中，所述光学测试接口包括在光学适配器处接纳的测试插头连接器，所述光学适配器被配置为接纳要测试的插头连接器并将所述要测试的插头连接器的光纤端面与所述光学测试接口的光纤端面对准。

14.一种用于测试具有标准光学接口的多光纤连接器处的光学连接性的环回插头，所述环回插头包括：

套管结构，所述套管结构沿着接口侧和相对侧之间的纵轴延伸；

主体，所述主体保持所述套管结构，所述主体被配置为将所述套管结构定位成接合所述多光纤连接器的标准光学接口的套管；以及

至少一个光学环回路径，所述至少一个光学环回路径延伸通过所述套管结构，每个光学环回路径具有能从所述套管结构的接口侧触及的相应的第一端接端和第二端接端；

所述套管结构的接口侧具有延伸超过所述光学环回路径的所述第一端接端和所述第二端接端的间隔部，所述间隔部的形状为接合所述标准光学接口的套管。

15.根据权利要求14所述的环回插头，其中，所述间隔部包括所述端面的突出侧，所述突出侧相对于与所述套管结构的纵轴垂直的参考板成角度延伸，所述角度的范围在1度和7度之间。

16.根据权利要求15所述的环回插头，其中，所述角度的范围在与所述参考平面成3度和5度之间。