[发明专利]无接触光学测试接口

说明书

本申请公开了一种无接触光学测试接口。测试设备的连接接口包括光学测试套管，该光学测试套管被构造成产生在测试路径(例如，光学光纤或光学波导)与由要测试的光学连接器的标准套管连接接口端接的光纤之间的有意的气隙。一些类型的测试套管具有带有非标准角度的端面，其干涉与标准套管连接接口的接触匹配。其他类型的测试套管具有带有一个或多个突起的端面，其干涉与标准套管连接接口的接触匹配。

技术领域

本申请涉及一种无接触光学测试接口。

背景技术

为了增强具有套管连接接口的两个或更多个光学连接器之间的光学连接，已对套管连接接口进行了标准化。标准套管连接接口包括使用三种抛光样式—PC(物理接触)、UPC(超物理接触)和APC(成角度的物理接触)中的一种形成的光学套管。在所有三种样式中，套管都被抛光，以消除套管的端面之间的气隙。以APC样式抛光的套管具有相对于参考平面成8度角度延伸的端面，该参考平面垂直于由套管保持的(一根或多根)光纤的纵轴延伸。当连接两个APC套管时，套管被以相反的旋转方向设置，使得成角度的表面相对并允许对应的光纤彼此接触。被以PC样式或UPC样式抛光的套管没有相对于参考平面成角度。替代地，PC或UPC套管的非成角度的端面使得对应的光纤能够彼此物理地接触。APC抛光的套管与PC或UPC抛光的套管不匹配。APC样式通常与端接单模光纤的套管一起使用，而PC和UPC样式通常与多模光纤一起使用。

光缆的连接器端的质量控制测试包括将要测试的光学连接器插入光学测试装备(optical testing rig)中。当要测试套管插头连接器时，将套管插头连接器插入提供标准套管连接接口的已知的光学测试装备中，在该标准套管连接接口处光学信号被提供到要测试的光学连接器。因为在测试装备处控制了光学信号，所以在线缆的另一端处接收信号失败表明线缆或线缆的连接器端有问题。

环回连接器(loop back connector)还可以被用在测试端接有套管光学连接器的光学部件中。环回连接器可以被配置为将要测试的线缆中的第一光纤与要测试的线缆中的另一光纤耦合。在中心局处，测试信号可以被注入到第一光纤上并在中心局处的第二光纤上被检测。使用环回连接器可以在执行测试时消除要测试的线缆与中心局之间的来回穿梭。在测试所部署的分配线缆时，消除穿梭可以产生大量时间和成本的节省。在美国专利No.7,680,388中示出了使用环回连接器从单个位置测试光纤引入端子(fiber dropterminal)的示例性方法，该美国专利的公开内容在此通过引用并入其全部内容。已知的环回连接器利用标准套管连接接口。

发明内容

本公开的一些方面涉及通过在要测试的(一根或多根)光纤与测试设备的套管连接接口之间引入受控制的气隙来改进光学光纤的质量控制。受控制的气隙防止要测试的(一根或多根)光纤与测试设备的套管连接接口之间的物理接触，由此降低了测试期间损坏(一根或多根)光纤的风险，而同时允许用于成功地完成测试操作的充足的光透射(例如，用于检测信号存在的足够的光透射)。

此外，受控制的气隙可以限制回反射和/或增加套管连接接口处的衰减。当测试具有环回连接器的光纤时，高衰减可以是有用的。在某些示例中，可以通过改变气隙的尺寸来将衰减调谐至期望的水平。在一个示例中，可以通过从一定范围的非标准端面角度中选择给定套管的非标准端面角度来改变期望的气隙尺寸，使得当套管与具有标准端面角度的套管光学地耦合时，在套管的光纤的端面之间限定期望的气隙。在一个示例中，非标准端面角度的范围可以在1度-7度的范围。在某些示例中，通过选择针对套管的合适的非标准端面角度，一个非标准套管可以与多种不同的标准套管类型兼容(例如，一个非标准套管可以与8度和0度套管二者都兼容)。

按照本公开的某些方面，测试设备的连接接口包括光学测试套管，该光学测试套管被构造为产生在由测试套管端接的光学光纤和由要测试的光学连接器的标准套管连接接口端接的光学光纤之间的气隙。