[发明专利]一种集成电路量产测试异常故障监控系统在审
申请号: | 202011274547.2 | 申请日: | 2020-11-15 |
公开(公告)号: | CN112652086A | 公开(公告)日: | 2021-04-13 |
发明(设计)人: | 李全任;佟金祥 | 申请(专利权)人: | 南京宏泰半导体科技有限公司 |
主分类号: | G07C3/00 | 分类号: | G07C3/00;G07C3/12;G07C3/14;G08B21/18 |
代理公司: | 南京北辰联和知识产权代理有限公司 32350 | 代理人: | 王真 |
地址: | 210000 江苏省南京市浦口区*** | 国省代码: | 江苏;32 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 集成电路 量产 测试 异常 故障 监控 系统 | ||
1.一种集成电路量产测试异常故障监控系统,其特征在于:包含数据采集模块、数据监控算法分析模块、数据监控显示模块、异常数据处理模块、测试系统以及机械手和探针;
其中,数据采集模块、数据监控算法分析模块、数据监控显示模块以及异常数据处理模块构成了本系统,
所述数据采集模块采集测试项目中的测试数据,
通过数据监控算法分析模块对采集到的测试数据进行监控以及分析,
然后再辅以图形化的数据监控显示模块将数据图形化显示,
将异常数据反馈给客户端,
测试系统及时定位问题产品,
机械手和探针台随后对问题产品进行检出。
2.根据权利要求1所述的一种集成电路量产测试异常故障监控系统,其特征在于:本系统包含的功能为多种报警类型设定、测试项目显示设定、ATE测试数据存储、实时数据监控控制、多种报警形式设定、测试ATE与测试终端通讯。
3.根据权利要求1所述的一种集成电路量产测试异常故障监控系统,其特征在于:本系统的功能模块包含有,
Data Monitoring:主框架界面,提供子页面管理;
View Count:提供Summary的显示,包括各个site的良率统计,Bin的良率统计;
Tab Page Module:提供显示各个测试Module以及各个Item测试数据的散点图、折线图;
Yeild Info:提供显示总良率和各个site良率、计数;
Alarm Setting:提供显示以及设置报警条件参数设置,包含对Item的limit设置、stdev设置、特定计算公式的设置、分Bin百分比的设置;
Common Alarm View:提供总良率、连续失效、site之间良率差、单项失效、停测条件有效数量设定;
Common Class:提供全局变量,枚举;
TCP Server:提供TCP/IP链接,与ATE 通信业务分选处理;
Data Package:提供数据包头定义以及封包函数;
STDF File Module:提供STDF各个结构定义,以及STDF文件操作;
TPC File Module:提供解析TPC文件接口函数;
Error Enum:提供错误代码定义、提示信息中英文定义以及处理函数;
mts Data:提供基本数据结构定义;
Client Dll:单独DLL文件,供ATE调用,提供TCP/IP客户端;初始化,以及与TCP Server通信模块封装;
Data Base Module:数据库操作模块,提供数据存储和查询接口;
Monitor Log:提供监控软件日志创建和记录;
Xml File Module:提供xml文件读写,包括Operator Setting和监控系统配置mtsMonitor Sys Config和测试程序监控配置mts Monitor Config;
其中,在本系统的架构设计中,界面层包含的模块为:Data Monitoring、View Count、Tab Page Module、Alarm Setting、Common Alarm View;
执行层包含的模块为:TCP Server、Data Base Module、Monitor Log、TPC FileModule、Xml File Module。
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