[发明专利]一种性能测试方法、装置及存储介质在审

专利信息
申请号: 202011275903.2 申请日: 2020-11-16
公开(公告)号: CN112486805A 公开(公告)日: 2021-03-12
发明(设计)人: 张小云;孙炎森;徐晓剑;刘磊;马融;李春兰;刘伟 申请(专利权)人: 中信银行股份有限公司
主分类号: G06F11/36 分类号: G06F11/36
代理公司: 北京市兰台律师事务所 11354 代理人: 张峰
地址: 100020 北京市朝*** 国省代码: 北京;11
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摘要:
搜索关键词: 一种 性能 测试 方法 装置 存储 介质
【权利要求书】:

1.一种性能测试方法,其特征在于,包括:

根据待测技术组件的情况以及预先获取的JVM隐式优化陷阱,生成JMH基准测试代码;

根据所述JMH基准测试代码对所述待测技术组件进行性能测试。

2.如权利要求1所述的方法,其特征在于,所述JVM隐式优化陷阱包括以下至少之一:无用代码消除、常量折叠和常数传播、循环展开、方法内敛、分支预测、伪共享。

3.如权利要求1所述的方法,其特征在于,在根据所述JMH基准测试代码对所述待测技术组件进行性能测试之前,还包括:

对所述JMH基准测试代码进行扫描;

判断所述JMH基准测试代码是否对所述JVM隐式优化陷阱进行了规避。

4.如权利要求1-3中任一项所述的方法,其特征在于,所述根据待测技术组件的情况以及预先获取的JVM隐式优化陷阱,生成JMH基准测试代码,包括:

获取所述待测技术组件的功能;

针对每一个所述功能,根据预先获取的JVM隐式优化陷阱以及所述功能,生成对应的JMH基准测试代码。

5.如权利要求1-3中任一项所述的方法,其特征在于,在根据所述JMH基准测试代码对所述待测技术组件进行性能测试之前,还包括:

按照预先设置的格式要求生成代码规范文件、代码正例和代码反例;

根据所述代码规范文件、所述代码正例和所述代码反例对所述JMH基准测试代码进行检测。

6.如权利要求1-3中任一项所述的方法,其特征在于,所述根据待测技术组件的情况以及预先获取的JVM隐式优化陷阱,生成JMH基准测试代码,包括:根据多个待测技术组件的情况以及预先获取的JVM隐式优化陷阱,生成多个JMH基准测试代码;

在根据所述JMH基准测试代码对所述待测技术组件进行性能测试之后,还包括:将得到的多个所述待测技术组件的性能测试结果进行整合,生成完整的性能测试结果。

7.如权利要求6所述的方法,其特征在于,所述根据所述JMH基准测试代码对所述待测技术组件进行性能测试,包括:

批量执行多个所述JMH基准测试代码以实现对多个所述待测技术组件的性能测试。

8.如权利要求1-3中任一项所述的方法,其特征在于,在根据所述JMH基准测试代码对进行性能测试之后,还包括:

对得到的所述待测技术组件的性能测试结果进行展示。

9.一种计算机可读存储介质,其特征在于,所述计算机可读存储介质存储有计算机程序,所述计算机程序被处理器执行时实现如权利要求1-8中任一项所述的方法。

10.一种电子装置,包括存储器和处理器,其特征在于,所述处理器通过执行所述存储器中的计算机程序实现如权利要求1-8中任一项所述的方法。

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