[发明专利]一种性能测试方法、装置及存储介质在审
申请号: | 202011275903.2 | 申请日: | 2020-11-16 |
公开(公告)号: | CN112486805A | 公开(公告)日: | 2021-03-12 |
发明(设计)人: | 张小云;孙炎森;徐晓剑;刘磊;马融;李春兰;刘伟 | 申请(专利权)人: | 中信银行股份有限公司 |
主分类号: | G06F11/36 | 分类号: | G06F11/36 |
代理公司: | 北京市兰台律师事务所 11354 | 代理人: | 张峰 |
地址: | 100020 北京市朝*** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 性能 测试 方法 装置 存储 介质 | ||
1.一种性能测试方法,其特征在于,包括:
根据待测技术组件的情况以及预先获取的JVM隐式优化陷阱,生成JMH基准测试代码;
根据所述JMH基准测试代码对所述待测技术组件进行性能测试。
2.如权利要求1所述的方法,其特征在于,所述JVM隐式优化陷阱包括以下至少之一:无用代码消除、常量折叠和常数传播、循环展开、方法内敛、分支预测、伪共享。
3.如权利要求1所述的方法,其特征在于,在根据所述JMH基准测试代码对所述待测技术组件进行性能测试之前,还包括:
对所述JMH基准测试代码进行扫描;
判断所述JMH基准测试代码是否对所述JVM隐式优化陷阱进行了规避。
4.如权利要求1-3中任一项所述的方法,其特征在于,所述根据待测技术组件的情况以及预先获取的JVM隐式优化陷阱,生成JMH基准测试代码,包括:
获取所述待测技术组件的功能;
针对每一个所述功能,根据预先获取的JVM隐式优化陷阱以及所述功能,生成对应的JMH基准测试代码。
5.如权利要求1-3中任一项所述的方法,其特征在于,在根据所述JMH基准测试代码对所述待测技术组件进行性能测试之前,还包括:
按照预先设置的格式要求生成代码规范文件、代码正例和代码反例;
根据所述代码规范文件、所述代码正例和所述代码反例对所述JMH基准测试代码进行检测。
6.如权利要求1-3中任一项所述的方法,其特征在于,所述根据待测技术组件的情况以及预先获取的JVM隐式优化陷阱,生成JMH基准测试代码,包括:根据多个待测技术组件的情况以及预先获取的JVM隐式优化陷阱,生成多个JMH基准测试代码;
在根据所述JMH基准测试代码对所述待测技术组件进行性能测试之后,还包括:将得到的多个所述待测技术组件的性能测试结果进行整合,生成完整的性能测试结果。
7.如权利要求6所述的方法,其特征在于,所述根据所述JMH基准测试代码对所述待测技术组件进行性能测试,包括:
批量执行多个所述JMH基准测试代码以实现对多个所述待测技术组件的性能测试。
8.如权利要求1-3中任一项所述的方法,其特征在于,在根据所述JMH基准测试代码对进行性能测试之后,还包括:
对得到的所述待测技术组件的性能测试结果进行展示。
9.一种计算机可读存储介质,其特征在于,所述计算机可读存储介质存储有计算机程序,所述计算机程序被处理器执行时实现如权利要求1-8中任一项所述的方法。
10.一种电子装置,包括存储器和处理器,其特征在于,所述处理器通过执行所述存储器中的计算机程序实现如权利要求1-8中任一项所述的方法。
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