[发明专利]一种性能测试方法、装置及存储介质

说明书

本发明实施例提供了一种性能测试方法，该方法包括：根据待测技术组件的情况以及预先获取的JVM隐式优化陷阱，生成JMH基准测试代码；根据该JMH基准测试代码对该待测技术组件进行性能测试。

技术领域

本发明涉及信息技术领域，具体涉及一种性能测试方法、装置及存储介质。

背景技术

随着中台建设的风靡，中台建设伴随的组件化开发工作也越来越多。在组件的性能测试中，传统应用中常见的性能测试软件如Jmeter、LoadRunner对于轻量的技术组件来说显得太重，性能测试过程中占用了服务器不少资源，影响了测试效果。

Java微基准测试套件(Java Microbenchmark Harness，JMH)，是Java开发过程中使用较多的基准测试套件，可以进行方法级别的压测，并提供执行预热等功能。如何有效利用JMH进行组件的性能测试成为一个问题。

发明内容

本发明提供了一种性能测试方法、装置及存储介质，可以有效利用JMH进行组件的性能测试。

本发明实施例提供了一种性能测试方法，包括：根据待测技术组件的情况以及预先获取的JVM隐式优化陷阱，生成JMH基准测试代码；根据所述JMH基准测试代码对所述待测技术组件进行性能测试。

可选的，所述JVM隐式优化陷阱包括以下至少之一：无用代码消除、常量折叠和常数传播、循环展开、方法内敛、分支预测、伪共享。

可选的，在根据所述JMH基准测试代码对所述待测技术组件进行性能测试之前，还包括：对所述JMH基准测试代码进行扫描；判断所述JMH基准测试代码是否对所述JVM隐式优化陷阱进行了规避。

可选的，所述根据待测技术组件的情况以及预先获取的JVM隐式优化陷阱，生成JMH基准测试代码，包括：获取所述待测技术组件的功能；针对每一个所述功能，根据预先获取的JVM隐式优化陷阱以及所述功能，生成对应的JMH基准测试代码。

可选的，在根据所述JMH基准测试代码对所述待测技术组件进行性能测试之前，还包括：按照预先设置的格式要求生成代码规范文件、代码正例和代码反例；根据所述代码规范文件、所述代码正例和所述代码反例对所述JMH基准测试代码进行检测。

可选的，所述根据待测技术组件的情况以及预先获取的JVM隐式优化陷阱，生成JMH基准测试代码，包括：根据多个待测技术组件的情况以及预先获取的JVM隐式优化陷阱，生成多个JMH基准测试代码；在根据所述JMH基准测试代码对所述待测技术组件进行性能测试之后，还包括：将得到的多个所述待测技术组件的性能测试结果进行整合，生成完整的性能测试结果。

可选的，所述根据所述JMH基准测试代码对所述待测技术组件进行性能测试，包括：批量执行多个所述JMH基准测试代码以实现对多个所述待测技术组件的性能测试。

可选的，在根据所述JMH基准测试代码对进行性能测试之后，还包括：对得到的所述待测技术组件的性能测试结果进行展示。

本发明实施例还提供了一种计算机可读存储介质，所述计算机可读存储介质存储有计算机程序，所述计算机程序被处理器执行时实现本发明实施例中的任意一种方法。

本发明实施例还提供了一种电子装置，包括存储器和处理器，所述处理器通过执行所述存储器中的程序实现本发明实施例中的任意一种方法。

通过本发明实施例提供的性能测试方法，可以有效利用JMH进行组件的性能测试。

附图说明

图1是本发明实施例提供的一种性能测试方法的流程图；

图2是根据本发明实施例的一种性能测试装置的框架图；

图3是根据本发明实施例的另一种性能测试方法的流程图。

具体实施方法