[发明专利]片上时钟控制装置、芯片、芯片测试系统和测试方法在审
申请号: | 202011284274.X | 申请日: | 2020-11-17 |
公开(公告)号: | CN112557887A | 公开(公告)日: | 2021-03-26 |
发明(设计)人: | 刘君 | 申请(专利权)人: | OPPO广东移动通信有限公司 |
主分类号: | G01R31/3185 | 分类号: | G01R31/3185 |
代理公司: | 北京清亦华知识产权代理事务所(普通合伙) 11201 | 代理人: | 邵泳城 |
地址: | 523860 广东*** | 国省代码: | 广东;44 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 时钟 控制 装置 芯片 测试 系统 方法 | ||
1.一种用于测试芯片的时域电路的片上时钟控制装置,其特征在于,包括:
信号输出模块,包括输入扫描寄存器和输出扫描寄存器,所述输入扫描寄存器用于从所述芯片接收输入信号,所述输入信号包括转换时钟信号和功能时钟信号,所述输出扫描寄存器用于根据所述转换时钟信号和所述功能时钟信号,分别输出第一测试信号和第二测试信号到频率相同的一个或多个所述时域电路中的待测试扫描寄存器,所述第一测试信号和所述第二测试信号依次对所述待测试扫描寄存器进行复位,以使得所述待测试扫描寄存器生成表征故障情况的测试结果信号。
2.根据权利要求1所述的片上时钟控制装置,其特征在于,所述输出扫描寄存器包括复位输出扫描寄存器、模式输出扫描寄存器和时钟输出扫描寄存器,所述输入扫描寄存器、所述复位输出扫描寄存器、模式输出扫描寄存器和时钟输出扫描寄存器依次连接,所述复位输出扫描寄存器输出所述第一测试信号的第一复位测试信号和所述第二测试信号的第二复位测试信号,所述第一复位测试信号和第二复位测试信号用于对所述待测试扫描寄存器进行复位,所述模式输出扫描寄存器输出所述第一测试信号的第一模式切换信号和所述第二测试信号的第二模式切换信号,所述第一模式切换信号和所述第二模式切换信号用于切换所述片上时钟控制装置的工作模式,所述时钟输出扫描寄存器输出所述第一测试信号的第一时钟测试信号和所述第二测试信号的第二时钟测试信号,所述第一时钟测试信号和所述第二时钟测试信号用于控制所述时域电路的时钟控制单元开启。
3.根据权利要求2所述的片上时钟控制装置,其特征在于,还包括:
模式选择模块,所述模式选择模块用于在接收到所述第一模式切换信号时,切换所述工作模式为测试模式,并将所述第一复位测试信号输出到所述待测试扫描寄存器,以根据所述第一复位测试信号对所述待测试扫描寄存器进行复位、及在接收到所述第二模式切换信号时,切换所述工作模式为捕获模式,并将所述第二复位测试信号输出到所述待测试扫描寄存器,以根据所述第二复位测试信号对所述待测试扫描寄存器进行复位。
4.根据权利要求1所述的片上时钟控制装置,其特征在于,所述信号输出模块还包括信号切换子模块,所述信号切换子模块与所述输入扫描寄存器连接,所述信号切换子模块用于控制所述转换时钟信号或所述功能时钟信号输入所述输入扫描寄存器。
5.根据权利要求1所述的片上时钟控制装置,其特征在于,所述输入信号根据预设的测试协议及所述片上时钟控制装置测试的时域电路的频率确定。
6.根据权利要求1所述的片上时钟控制装置,其特征在于,所述转换时钟信号对应的时钟频率小于所述功能时钟信号对应的时钟频率。
7.一种芯片,其特征在于,包括:
权利要求1-6任一项所述的片上时钟控制装置;和
时域电路,所述片上时钟控制装置设置在所述时域电路上。
8.根据权利要求7所述的芯片,其特征在于,所述片上时钟控制装置为多个,多个所述片上时钟控制装置连接形成扫描寄存器链,所述输入扫描寄存器用于接收所述输入信号中与所述输入扫描寄存器对应的输入子信号,以获取所述转换时钟信号和所述功能时钟信号。
9.根据权利要求7所述的芯片,其特征在于,所述信号输出模块还包括信号切换子模块,所述信号切换子模块与所述输入扫描寄存器连接,所述芯片还包括输入接口,所述输入接口包括第一输入接口和第二输入接口,所述第一输入接口用于输入所述转换时钟信号,所述第二输入接口用于输入所述功能时钟信号,所述信号切换子模块用于与所述第一输入接口或所述第二输入接口连接。
10.根据权利要求7所述的芯片,其特征在于,所述时域电路包括至少一个时钟控制单元,所述片上时钟控制装置还用于根据所述转换时钟信号或所述功能时钟信号输出时钟控制信号,所述时钟控制单元用于根据所述时钟控制信号控制所述待测试扫描寄存器的时钟频率。
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