[发明专利]一种质谱数据峰位置对齐方法及装置有效

专利信息
申请号: 202011289277.2 申请日: 2020-11-18
公开(公告)号: CN112395983B 公开(公告)日: 2022-03-18
发明(设计)人: 王磊;李庆运;王东鉴 申请(专利权)人: 深圳市步锐生物科技有限公司
主分类号: G06K9/00 分类号: G06K9/00;G06F17/14;G06F17/18
代理公司: 深圳市广诺专利代理事务所(普通合伙) 44611 代理人: 伍华荣
地址: 518000 广东省深圳市坪山区坑梓街道金沙*** 国省代码: 广东;44
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摘要:
搜索关键词: 种质 数据 位置 对齐 方法 装置
【权利要求书】:

1.一种质谱数据峰位置对齐方法,其特征在于,包括以下步骤:

步骤S11:获取原始谱图,并设定S(x)为待对齐谱,R(x)为参考谱;

步骤S12:设置高斯窗函数σ的初始值、最小值和步长Δσ;采用findpeaks函数对S(x)进行谱峰识别,并对谱峰位置进行标记;

步骤S13:采用smoothdata函数对S(x)的谱图进行平滑处理,将平滑处理后的谱图记为T(x);

步骤S14:对T(x)的谱峰进行再次识别,将每个谱峰当做一个分段;其中,T(x)的分段边界即为S(x)的分段边界,设S(x)的分段Si(x),i=1,2,...;

步骤S15:采用 FFT函数方法计算各分段Si(x)相对于参考谱R(x)对应分段的漂移量ΔPi;按漂移量ΔPi移动Si(x),若与相邻分段 Si-1(x)或Si+1(x)发生谱峰重叠,则让ΔPi=ΔPi-1(ΔPi≥0),直到不发生重叠为止,记录不重叠时的漂移量ΔPi

步骤S16:用各分段不重叠时的漂移量ΔPi校正相应的分段Si(x)的谱峰,得到目标尺度下的待对齐谱S(x)。

2.如权利要求1所述的质谱数据峰位置对齐方法,其特征在于,所述步骤S12之后还包括:

步骤S17:建立噪声分布的数学模型,采用movmean函数,结合小波变换、非线性滤波方法对原始谱图中的噪声进行非线性抑制、平滑降噪和优化处理。

3.如权利要求2所述的质谱数据峰位置对齐方法,其特征在于,所述步骤S16之后还包括:

步骤S18:判断所述高斯窗函数σ是否达到设定的最小值,若结果为是,则算法结束;若结果为否,使σ’=σ-Δσ,并回到所述步骤S17。

4.如权利要求3所述的质谱数据峰位置对齐方法,其特征在于,所述步骤S16之后还包括:

步骤S19:将对齐处理后的所述待对齐谱S(x)生成新的谱图数据,并输出保存至指定路径。

5.如权利要求3所述的质谱数据峰位置对齐方法,其特征在于,所述步骤S16之后还包括:

步骤S20:将对齐处理后的所述待对齐谱S(x)进行绘图处理并输出。

6.一种质谱数据峰位置对齐装置,其特征在于,包括:

谱图定义模块,用于获取原始谱图,并设定S(x)为待对齐谱,R(x)为参考谱;

数据初始化模块,用于设置高斯窗函数σ的初始值、最小值和步长Δσ;采用findpeaks函数对S(x)进行谱峰识别,并对谱峰位置进行标记;

平滑处理模块,用于采用smoothdata函数对S(x)的谱图进行平滑处理,将平滑处理后的谱图记为T(x);

分段设定模块,用于对T(x)的谱峰进行再次识别,将每个谱峰当做一个分段;其中,T(x)的分段边界即为S(x)的分段边界,设S(x)的分段Si(x),i=1,2,...;

漂移量计算模块,用于采用 FFT函数方法计算各分段Si(x)相对于参考谱R(x)对应分段的漂移量ΔPi;按漂移量ΔPi移动Si(x),若与相邻分段 Si-1(x)或Si+1(x)发生谱峰重叠,则让ΔPi=ΔPi-1(ΔPi≥0),直到不发生重叠为止,记录不重叠时的漂移量ΔPi

校正处理模块,用于用各分段不重叠时的漂移量ΔPi校正相应的分段Si(x)的谱峰,得到目标尺度下的待对齐谱S(x)。

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