[发明专利]一种质谱数据峰位置对齐方法及装置有效
申请号: | 202011289277.2 | 申请日: | 2020-11-18 |
公开(公告)号: | CN112395983B | 公开(公告)日: | 2022-03-18 |
发明(设计)人: | 王磊;李庆运;王东鉴 | 申请(专利权)人: | 深圳市步锐生物科技有限公司 |
主分类号: | G06K9/00 | 分类号: | G06K9/00;G06F17/14;G06F17/18 |
代理公司: | 深圳市广诺专利代理事务所(普通合伙) 44611 | 代理人: | 伍华荣 |
地址: | 518000 广东省深圳市坪山区坑梓街道金沙*** | 国省代码: | 广东;44 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 种质 数据 位置 对齐 方法 装置 | ||
本发明公开一种质谱数据峰位置对齐方法,包括以下步骤:获取原始谱图;采用findpeaks函数对S(x)进行谱峰识别,并对谱峰位置进行标记;采用smoothdata函数对S(x)的谱图进行平滑处理,将平滑处理后的谱图记为T(x);对T(x)的谱峰进行再次识别,将每个谱峰当做一个分段;采用FFT函数方法计算各分段Si(x)相对于参考谱R(x)对应分段的漂移量ΔPi;按漂移量ΔPi移动Si(x),若与相邻分段Si‑1(x)或Si+1(x)发生谱峰重叠,则让ΔPi=ΔPi‑1(ΔPi≥0),直到不发生重叠为止,记录不重叠时的漂移量ΔPi;用各分段不重叠时的漂移量ΔPi校正相应的分段Si(x)的谱峰,得到目标尺度下的对齐谱S(x)。本发明具有操作简单明了、分析效率高、对齐准确等显著优势,有效改善了谱图数据处理的准确性与可靠性。
技术领域
本发明涉及质谱分析技术领域,尤其涉及一种质谱数据峰位置对齐方法及装置。
背景技术
在质谱系统实验过程中,系统采集的谱图会受到诸如环境温度、进样速率、电磁干扰、系统噪声等多方面因素的干扰,这些干扰会使所采集的谱图产生畸变、漂移等失真现象,即使是相同的样品,在不同仪器以及条件下测得的谱图也不尽相同。同时,也会在谱图中加入许多无规则噪声,这些噪声能够降低有效信号的信噪比,对识别产生不利影响。在系统应用过程中,由于采样的时间、环境等因素不同,每次实验采集的谱图都存在差异,如果不经处理,这些外界因素引起的差异将会覆盖不同样品图谱之间本身的差异,导致识别错误。然而,现有的质谱数据处理模型中具有操作较为复杂、分析效率较低以及对齐不够准确的问题,不能满足谱图数据处理中对于准确性与可靠性的需求。
鉴于此,实有必要提供一种质谱数据峰位置对齐方法及装置以克服上述缺陷。
发明内容
本发明的目的是提供一种质谱数据峰位置对齐方法及装置,旨在改善现有的质谱数据处理模型中具有操作较为复杂、分析效率较低以及对齐不够准确的问题,实现多中心、多节点原始数据漂移的对齐与统一分析,有效改善谱图数据处理的准确性与可靠性,具有操作简单明了、分析效率高、对齐准确等显著优势。
为了实现上述目的,本发明一方面是提供一种质谱数据峰位置对齐方法,包括以下步骤:
步骤S11:获取原始谱图,并设定S(x)为待对齐谱,R(x)为参考谱;
步骤S12:设置高斯窗函数σ的初始值、最小值和步长Δσ;采用findpeaks函数对S(x)进行谱峰识别,并对谱峰位置进行标记;
步骤S13:采用smoothdata函数对S(x)的谱图进行平滑处理,将平滑处理后的谱图记为T(x);
步骤S14:对T(x)的谱峰进行再次识别,将每个谱峰当做一个分段;其中,T(x)的分段边界即为S(x)的分段边界,设S(x)的分段Si(x),i=1,2,...;
步骤S15:采用 FFT函数方法计算各分段Si(x)相对于参考谱R(x)对应分段的漂移量ΔPi;按漂移量ΔPi移动Si(x),若与相邻分段 Si-1(x)或Si+1(x)发生谱峰重叠,则让ΔPi=ΔPi-1(ΔPi≥0),直到不发生重叠为止,记录不重叠时的漂移量ΔPi;
步骤S16:用各分段不重叠时的漂移量ΔPi校正相应的分段Si(x)的谱峰,得到目标尺度下的待对齐谱S(x)。
在一个优选实施方式中,所述步骤S12之后还包括:
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