[发明专利]基于实际样品为标样测定大气颗粒物中多种元素的方法在审

专利信息
申请号: 202011292431.1 申请日: 2020-11-18
公开(公告)号: CN112697829A 公开(公告)日: 2021-04-23
发明(设计)人: 王烨;曹珊;朱津蕊 申请(专利权)人: 中国地质调查局西安地质调查中心(西北地质科技创新中心)
主分类号: G01N23/223 分类号: G01N23/223
代理公司: 西安长和专利代理有限公司 61227 代理人: 黄伟洪
地址: 710054 陕西*** 国省代码: 陕西;61
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摘要:
搜索关键词: 基于 实际 样品 标样 测定 大气 颗粒 多种 元素 方法
【权利要求书】:

1.一种基于实际样品为标样测定大气颗粒物中多种元素的方法,其特征在于,所述基于实际样品为标样测定大气颗粒物中多种元素的方法包括:

采用经验系数和散射线内标法校正制备的样品的基体效应,使用综合数学校正公式和多元回归,求出所述校准曲线的截距、斜率、基体效应和谱线重叠干扰因子;

采用重复测定法对校正后的样品组分和含量检出限进行测试。

2.如权利要求1所述基于实际样品为标样测定大气颗粒物中多种元素的方法,其特征在于,建立用于大气颗粒物中无机元素XRF测定方法的标准曲线,以不同含量的实际样品构成标准系列中,标称值不确定度为5%;以11-12个不同含量的标样和一个空白膜构成标准系列。

3.如权利要求2所述基于实际样品为标样测定大气颗粒物中多种元素的方法,其特征在于,使用能量色散X射线荧光,利用谱图拟合方法对相邻重叠谱峰进行拟合解析,扣除干扰峰的影响,得到目标元素特征谱峰强度的方法下,使用非线性最小二乘法拟合进行解谱;

建立用于大气颗粒物中无机元素测定XRF方法的标准曲线,以不同含量的实际样品构成标准系列;梯度适当的校准样品系列制成各元素含量的校准曲线。

4.如权利要求1所述基于实际样品为标样测定大气颗粒物中多种元素的方法,其特征在于,所述样品的制备方法包括:

采样前后滤膜分别称量2次,每次称量前在20-23℃、RH·35-45%恒温箱中放置高于24h至恒重,然后称重,保存于聚苯乙烯皮氏皿中,再用聚乙烯封口袋密封,冷藏于4℃。

5.如权利要求1所述基于实际样品为标样测定大气颗粒物中多种元素的方法,其特征在于,所述多元回归方法包括:

式中:C是浓度或计数率;Mi是待测试样的强度;n是待测分析元素;α,β,γ,δ是用于基体校正的因子;i是待测元素:j,k是干扰元素。

6.如权利要求1所述基于实际样品为标样测定大气颗粒物中多种元素的方法,其特征在于,所述重复测定法包括:

选取含量为2~20倍检出限的实际样品进行重复测量:

式中wi为低含量标样的含量,IB为低含量标样的强度,I0为空白样品强度,sd为7次重复测量空白样品及低含量实际样品强度的标准偏差;如果没有测定低含量标样得到的含量与强度比值,校准曲线斜率a取代。

7.如权利要求1所述基于实际样品为标样测定大气颗粒物中多种元素的方法,其特征在于,所述检出限根据下公式进行计算:

式中:m为元素单位含量的计数率;Ib为背景计数率,cps;Tb为背景测量时间,s。

8.如权利要求1所述基于实际样品为标样测定大气颗粒物中多种元素的方法,其特征在于,所述采用重复测定法对校正后的样品组分和含量检出限进行测试,包括:

将采集在特氟龙滤膜的6个PM2.5样品、空白滤膜采用大循环测定模式,重复测量7次;计算不同样品的测试结果3倍标准偏差,选择与元素含量比值为2~20的数值;如果达不到2~20的数值,选择空白滤膜数据计算结果。如果多套数据同时满足2~20,取平均值或中位值;根据测量数据计算得到的方法检出限计算数据。

9.如权利要求1所述基于实际样品为标样测定大气颗粒物中多种元素的方法,其特征在于,所述采用重复测定法对校正后的样品组分和含量检出限进行测试后,进一步进行精密度分析,用近似定量软件、化学分析法与岩矿鉴定分析,确定对同一片滤膜测量结果的主要成分及含量进行测定,确定在取3个在特氟龙滤膜上负载量不同的环境空气颗粒物PM2.5样品进行测量,允许的基体和干扰元素含量范围;

对标样采用平行制备3个样片进行分析,获得精密度原始测量数据。

10.一种实施如权利要求1~8任意一项所述基于实际样品为标样测定大气颗粒物中多种元素的方法的能量色散X射线荧光光谱仪。

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