[发明专利]光强检测、参数确定方法、装置、设备及存储介质在审
申请号: | 202011297676.3 | 申请日: | 2020-11-18 |
公开(公告)号: | CN112504442A | 公开(公告)日: | 2021-03-16 |
发明(设计)人: | 王智;李厚辰 | 申请(专利权)人: | 深圳市汇顶科技股份有限公司 |
主分类号: | G01J1/00 | 分类号: | G01J1/00;G01M11/02;G09G3/20 |
代理公司: | 北京合智同创知识产权代理有限公司 11545 | 代理人: | 李杰 |
地址: | 518045 广东省深圳*** | 国省代码: | 广东;44 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 检测 参数 确定 方法 装置 设备 存储 介质 | ||
1.一种光强检测方法,其特征在于,包括:
获取实测屏幕漏光的灰度;
采用预先存储的指数校正值,对所述灰度进行指数校正,得到校正灰度,所述指数校正值指示所述实测屏幕漏光的灰度与光强之间的指数映射关系;
基于预先存储的线性拟合参数,对所述校正灰度进行线性计算,得到所述实测屏幕漏光的光强。
2.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述采用预先存储的指数校正值,对所述灰度进行指数校正,得到校正灰度,包括:
采用如下公式进行校正:X=(x/255)γ×255,
其中,X表示所述校正灰度,x表示所述灰度;γ为指示测试屏幕漏光的灰度与光强之间的伽马校正映射关系的伽马值。
3.根据权利要求2所述的方法,其特征在于,所述基于预先存储的线性拟合参数,对所述校正灰度进行线性计算,得到所述实测屏幕漏光的光强,包括:
采用如下公式进行线性计算:Y=k×X+b,
其中,k和b表示所述线性拟合参数;Y表示所述实测屏幕漏光的光强。
4.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述获取实测屏幕漏光的灰度,包括:
通过对显示屏的当前显示图像进行处理,计算所述实测屏幕漏光的灰度。
5.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述方法还包括:
获取屏幕环境透光的光强;
基于所述实测屏幕漏光的光强,对所述屏幕环境透光的光强进行过滤处理,得到环境光的检测光强。
6.一种参数确定方法,其特征在于,包括:
获取测试屏幕漏光在目标灰度下的感测光强;
对所述目标灰度进行指数校正,使得校正得到的校正灰度与所述目标灰度下的感测光强之间具有线性关系,以确定指数校正值;
对所述线性关系进行拟合处理,确定所述校正灰度与所述目标灰度下的感测光强之间的线性拟合参数;
存储所述指数校正值和所述线性拟合参数,以基于所述指数校正值和所述线性拟合参数,执行权利要求1-5中任一项所述的光强检测方法。
7.根据权利要求6所述的方法,其特征在于,所述对所述目标灰度进行指数校正,使得校正得到的校正灰度与所述目标灰度下的感测光强之间具有线性关系,以确定指数校正值,包括:
确定具有不同伽马值的一组备选伽马校正曲线;
利用所述一组备选伽马校正曲线中的伽马校正曲线,基于所述目标灰度进行伽马校正,使得校正得到的光强与所述目标灰度下的感测光强之间具有线性关系;
将所述伽马校正曲线的伽马值确定为所述指数校正值。
8.根据权利要求6所述的方法,其特征在于,所述线性关系指示一组校正灰度值与所述一组校正灰度值分别对应的一组光强值之间的映射关系,
所述对所述线性关系进行拟合处理,包括:
对所述一组校正灰度值和所述一组光强值应用最小二乘法,以对所述映射关系进行拟合处理。
9.根据权利要求6所述的方法,其特征在于,所述获取测试屏幕漏光在目标灰度下的感测光强,包括:
控制显示屏以所述目标灰度进行显示,得到所述测试屏幕漏光;
在所述显示屏下方,感测所述测试屏幕漏光的感测光强。
10.根据权利要求9所述的方法,其特征在于,所述控制显示屏以所述目标灰度进行显示,得到所述测试屏幕漏光,包括:
在控制所述显示屏以所述目标灰度进行显示时,通过设置在所述显示器上方的遮光件消除所述显示屏的环境透光,得到所述测试屏幕漏光。
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