[发明专利]光强检测、参数确定方法、装置、设备及存储介质在审

专利信息
申请号: 202011297676.3 申请日: 2020-11-18
公开(公告)号: CN112504442A 公开(公告)日: 2021-03-16
发明(设计)人: 王智;李厚辰 申请(专利权)人: 深圳市汇顶科技股份有限公司
主分类号: G01J1/00 分类号: G01J1/00;G01M11/02;G09G3/20
代理公司: 北京合智同创知识产权代理有限公司 11545 代理人: 李杰
地址: 518045 广东省深圳*** 国省代码: 广东;44
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摘要:
搜索关键词: 检测 参数 确定 方法 装置 设备 存储 介质
【说明书】:

发明实施例提供一种光强检测、参数确定方法、装置、设备及存储介质。所述光强检测方法包括:获取实测屏幕漏光的灰度;采用预先存储的指数校正值,对所述灰度进行指数校正,得到校正灰度,所述指数校正值通过测试屏幕漏光的灰度与光强之间的指数映射关系确定;基于预先存储的线性拟合参数,对所述校正灰度进行线性计算,得到所述实测屏幕漏光的光强。本发明实施例准确地检测了实测屏幕漏光的光强。

技术领域

本发明实施例涉及传感器技术领域,尤其涉及一种光强检测、参数确定方法、装置、设备及存储介质。

背景技术

为了满足诸如手机的电子设备的大屏幕趋势,同时保证简洁的外观和工业设计一体化,诸如光强传感器等部件会内置到显示屏的下方。光强传感器会基于显示屏的环境透光计算环境光的光强,以便对显示屏的显示进行调整,使得显示屏的显示效果更符合用户的视觉感受。

虽然诸如有机电致发光显示器(Organic Electroluminescence Display,OLED)的自发光显示屏提供了优良的显示效果,但是利用其屏下的诸如光感传感器的传感器进行环境光测量时,通常会产生较大的误差,经过测试,发现该误差主要由于自发光显示屏的屏幕漏光引起。然而,现有技术中缺少能够准确地漏光检测的技术。

发明内容

有鉴于此,本发明实施例所解决的技术问题之一在于提供一种光强检测、参数确定方法、装置、设备及存储介质,以解决上述问题。

根据本发明实施例的第一方面,提供了一种光强检测方法,包括:获取实测屏幕漏光的灰度;采用预先存储的指数校正值,对所述灰度进行指数校正,得到校正灰度,所述指数校正值通过测试屏幕漏光的灰度与光强之间的指数映射关系确定;基于预先存储的线性拟合参数,对所述校正灰度进行线性计算,得到所述实测屏幕漏光的光强。

根据本发明实施例的第二方面,提供了一种参数确定方法,包括:获取测试屏幕漏光在目标灰度下的感测光强;对所述目标灰度进行指数校正,使得校正得到的校正灰度与所述目标灰度下的感测光强之间具有线性关系以确定指数校正值;对所述线性关系进行拟合处理,确定所述校正灰度与所述目标灰度下的感测光强之间的线性拟合参数;存储所述指数校正值和所述线性拟合参数,以基于所述指数校正值和所述线性拟合参数,执行第一方面所述的光强检测方法。

根据本发明实施例的第三方面,提供了一种光强检测装置,包括:获取模块,获取实测屏幕漏光的灰度;校正模块,采用预先存储的指数校正值,对所述灰度进行指数校正,得到校正灰度,所述指数校正值通过测试屏幕漏光的灰度与光强之间的指数映射关系确定;计算模块,基于预先存储的线性拟合参数,对所述校正灰度进行线性计算,得到所述实测屏幕漏光的光强。

根据本发明实施例的第四方面,提供了一种参数确定装置,包括:获取模块,获取测试屏幕漏光在目标灰度下的感测光强;第一确定模块,对所述目标灰度进行指数校正,使得校正得到的校正灰度与所述目标灰度下的感测光强之间具有线性关系,以确定指数校正值;第二确定模块,对所述线性关系进行拟合处理,确定所述校正灰度与所述目标灰度下的感测光强之间的线性拟合参数;存储模块,存储所述指数校正值和所述线性拟合参数,以基于所述指数校正值和所述线性拟合参数,执行第一方面所述的光强检测方法。

根据本发明实施例的第五方面,提供了一种电子设备,包括:至少一个处理器、存储器、总线及通信接口,其中,所述存储器中存储有程序,所述处理器、所述通信接口以及所述存储器通过所述通信总线完成相互间的通信,所述通信接口用于与其它设备或部件进行通信,所述处理器执行所述程序,以实现根据第一方面或第二方面所述的方法。

根据本发明实施例的第六方面,提供了一种存储介质,所述存储介质包括存储的程序,其中,在所述程序运行时控制包括所述存储介质的设备执行根据第一方面或第二方面所述的方法。

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