[发明专利]动态检测FPGA芯片内压降的方法及FPGA芯片有效
申请号: | 202011297868.4 | 申请日: | 2020-11-19 |
公开(公告)号: | CN112100960B | 公开(公告)日: | 2021-03-09 |
发明(设计)人: | 唐晓柯;周芝梅;冯晨;马超;郭小燕;郑海杰;万勇 | 申请(专利权)人: | 北京智芯微电子科技有限公司;国家电网有限公司;国网山东省电力公司信息通信公司;国网思极紫光(青岛)微电子科技有限公司 |
主分类号: | G06F30/343 | 分类号: | G06F30/343 |
代理公司: | 北京润平知识产权代理有限公司 11283 | 代理人: | 肖冰滨;王晓晓 |
地址: | 100192 北京市海淀区*** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 动态 检测 fpga 芯片 内压降 方法 | ||
1.一种动态检测FPGA芯片内压降的方法,其特征在于,所述方法包括:
将模数转换模块的输入通道与FPGA芯片的对压降敏感的内部电路的电源端连接,将所述模数转换模块的输出信号端与所述FPGA芯片内的布线资源连接,通过所述模数转换模块将所述FPGA芯片的内部电路的输入电压转换为数字信号并输出;
通过对所述FPGA芯片进行编程来配置所述FPGA芯片内的逻辑资源,以监控所述模数转换模块输出的数字信号的变化情况,根据所述模数转换模块输出的数字信号的变化情况确定所述FPGA芯片的内部电路的输入电压的压降。
2.根据权利要求1所述的动态检测FPGA芯片内压降的方法,其特征在于,所述模数转换模块包括多个所述输入通道和一个输入通道选通信号端,通过所述输入通道选通信号端对多个所述输入通道进行选择。
3.根据权利要求2所述的动态检测FPGA芯片内压降的方法,其特征在于,所述模数转换模块的输出信号端分时顺序输出多个所述输入通道对应转换的数字信号。
4.根据权利要求1所述的动态检测FPGA芯片内压降的方法,其特征在于,所述方法还包括:
确定所述FPGA芯片的内部电路的输入电压的压降是否超过预设阈值,若是,则降低所述内部电路的工作频率或对所述FPGA芯片进行复位。
5.一种可动态检测内部压降的FPGA芯片,包括内部电路和布线资源,其特征在于,还包括模数转换模块,所述模数转换模块用于将所述内部电路的输入电压转换为数字信号并输出;
所述模数转换模块的输入通道与对压降敏感的所述内部电路的电源端连接,所述模数转换模块的输出信号端与所述布线资源连接;
通过对所述FPGA芯片进行编程来配置所述FPGA芯片内的逻辑资源,以监控所述模数转换模块输出的数字信号的变化情况,根据所述模数转换模块输出的数字信号的变化情况确定所述内部电路的输入电压的压降。
6.根据权利要求5所述的可动态检测内部压降的FPGA芯片,其特征在于,所述模数转换模块包括多个所述输入通道和一个输入通道选通信号端,通过所述输入通道选通信号端对多个所述输入通道进行选择。
7.根据权利要求6所述的可动态检测内部压降的FPGA芯片,其特征在于,所述模数转换模块的输出信号端分时顺序输出多个所述输入通道对应转换的数字信号。
8.根据权利要求5所述的可动态检测内部压降的FPGA芯片,其特征在于,所述FPGA芯片通过编程判断所述内部电路的输入电压的压降是否超过预设阈值,在确定所述内部电路的输入电压的压降超过所述预设阈值时降低所述内部电路的工作频率或对所述FPGA芯片进行复位。
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