[发明专利]一种用于半导体晶圆光刻显影蚀刻的设备有效

专利信息
申请号: 202011298154.5 申请日: 2020-11-19
公开(公告)号: CN112327585B 公开(公告)日: 2022-07-05
发明(设计)人: 周天 申请(专利权)人: 青岛芯微半导体科技有限公司
主分类号: G03F7/30 分类号: G03F7/30
代理公司: 无锡风创知识产权代理事务所(特殊普通合伙) 32461 代理人: 冯霞霞
地址: 266000 山东省青岛*** 国省代码: 山东;37
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要:
搜索关键词: 一种 用于 半导体 圆光 显影 蚀刻 设备
【说明书】:

发明公开了一种用于半导体晶圆光刻显影蚀刻的设备,包括设备外箱,所述设备外箱内腔的底部设置有导向机构,所述导向机构的顶部设置有复位机构,所述复位机构的顶部设置有放置台,所述设备外箱内腔右侧底部固定安装有驱动装置,所述设备外箱的左侧活动安装有闭合门,所述设备外箱内腔的顶部设置有下压机构,所述下压机构的底部设置有调整机构,所述调整机构的底部活动安装有遮光物本体,所述闭合门右侧的顶部固定安装有紫外线光照装置,所述设备外箱顶部的左侧贯穿设置有输液机构。该设备能够为遮光物本体的下移提供支撑和保护,利于延长遮光物本体的使用寿命,并方便清理设备内积留的溶解液,以保持设备内部的清洁度。

技术领域

本发明涉及晶圆技术领域,具体为一种用于半导体晶圆光刻显影蚀刻的设备。

背景技术

晶圆是指硅半导体集成电路制作所用的硅晶片,由于其形状为圆形,故称为晶圆;在硅晶片上可加工制作成各种电路元件结构,而成为有特定电性功能之IC产品,晶圆的原始材料是硅,而地壳表面有用之不竭的二氧化硅,二氧化硅矿石经由电弧炉提炼,盐酸氯化,并经蒸馏后,制成了高纯度的多晶硅。

在芯片的制作过程中,一般是将晶圆在设备上通过光刻显影和蚀刻的方式制作而成的,但是传统的光刻显影和蚀刻设备存在以下缺陷:

一、在晶圆制作的过程中,需要对晶圆进行遮光,而遮光物在下移放置时,由于驱动源的作用,在长时间的使用中,容易被压坏,进而无法起到遮光作用,影响晶圆的制作;

二、在晶圆的制作过程中,被溶解的溶剂在排出时,还会有部分滞留在设备内,不方便清洗,进而无法保证光刻显影和蚀刻设备内的洁净,也会影响晶圆的制作,甚至影响晶圆成品的质量。

发明内容

本发明的目的在于提供一种用于半导体晶圆光刻显影蚀刻的设备,该设备能够为遮光物本体的下移提供支撑和保护,利于延长遮光物本体的使用寿命,并方便清理设备内积留的溶解液,以保持设备内部的清洁度。

为实现上述目的,本发明提供如下技术方案:一种用于半导体晶圆光刻显影蚀刻的设备,包括设备外箱,所述设备外箱内腔的底部设置有导向机构,所述导向机构的顶部设置有复位机构,所述复位机构的顶部设置有放置台,所述设备外箱内腔右侧底部固定安装有驱动装置,所述设备外箱的左侧活动安装有闭合门,所述设备外箱内腔的顶部设置有下压机构,所述下压机构的底部设置有调整机构,所述调整机构的底部活动安装有遮光物本体,所述闭合门右侧的顶部固定安装有紫外线光照装置,所述设备外箱顶部的左侧贯穿设置有输液机构。

优选的,所述下压机构包括固定安装在设备外箱内腔顶部的推动气缸,所述推动气缸的活塞杆底部固定安装有下压板。

优选的,所述调整机构包括焊接在下压板底部右侧的安装架,所述安装架的左侧设置有与其转动连接的电动伸缩杆,所述下压板底部固定连接有位于安装架左侧的固定架一,所述固定架一的底部转动连接有L形活动架,所述L形活动架的左端为自上向下自右向左倾斜的斜面,所述L形活动架的右侧固定连接有固定架二,所述电动伸缩杆的输出端与固定架二转动连接。

优选的,所述L形活动架的底部焊接有固定架三,所述固定架三的内腔转动连接有安装块,所述遮光物本体与安装块螺纹连接。

优选的,所述导向机构包括焊接在设备外箱底部内壁上的导向轨,所述导向轨内腔的两侧均开设有长圆孔,所述导向轨的内腔滑动连接有滑动块,所述滑动块的两侧分别固定连接有与两长圆孔滑动配合的滑动销。

优选的,所述复位机构包括焊接在滑动块顶部的承托块,所述承托块的右侧与驱动装置的输出端固定连接,所述承托块的顶部开设有凹槽,所述凹槽内腔的左侧转动连接有转动块,所述凹槽内腔的右侧固定连接有弹簧。

下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于青岛芯微半导体科技有限公司,未经青岛芯微半导体科技有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/202011298154.5/2.html,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top