[发明专利]载片平台调平方法、检测装置及存储介质有效
申请号: | 202011301803.2 | 申请日: | 2020-11-19 |
公开(公告)号: | CN112501271B | 公开(公告)日: | 2022-09-02 |
发明(设计)人: | 卢亭亭;曹艳波;李阳;何继伟;姜鹤鸣;张伟;刘卿 | 申请(专利权)人: | 武汉华大智造科技有限公司 |
主分类号: | C12Q1/6874 | 分类号: | C12Q1/6874;C12M1/34;H04N5/222 |
代理公司: | 深圳市赛恩倍吉知识产权代理有限公司 44334 | 代理人: | 刘丽华;饶智彬 |
地址: | 430075 湖北省武汉市东湖新技术开发区高*** | 国省代码: | 湖北;42 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | |||
搜索关键词: | 平台 平方 检测 装置 存储 介质 | ||
一种载片平台调平方法,应用于检测装置,所述检测装置包括相机、物镜,以及用于承载生物芯片的载片平台,所述方法包括:基于所述物镜的自动对焦功能获取生物芯片的N个FOV分别对应的Z轴坐标,N为大于1的正整数;根据所述N个FOV分别对应的Z轴坐标确定对所述载片平台是否粗调成功;及若对所述载片平台粗调成功,则基于所述相机拍摄的图像对所述载片平台进行精调。本发明还提供一种实现所述载片平台调平方法的检测装置及存储介质。本发明可以快速对载片平台进行调平。
技术领域
本发明涉及测序领域,具体涉及一种载片平台调平方法、检测装置及存储介质。
背景技术
本部分旨在为权利要求书及具体实施方式中陈述的本发明实施例的实施方式提供背景或上下文。此处的描述不因为包括在本部分中就承认是现有技术。
检测装置例如测序仪主要是通过拍照获取图片中被荧光物质着色的碱基信号来分辨碱基类别。图片清晰度直接影响到采集到的数据量及数据质量,为保证整张图片均能清晰成像,需要保证拍照视场范围内的平面度在景深范围内,因此对拍照视场平面度要求极高。
在检测装置例如测序仪生产过程中,采用人工调平,对调平人员个人技能要求较高,熟练调试人员调平过程顺利情况下需要半小时。在客户端装机进行调平时,对现场装机工程师经验及技能要求高,若经验缺乏,则影响装机效率。
发明内容
鉴于以上内容,有必要提出一种载片平台调平方法、检测装置及存储介质,用以解决检测装置的载片平台调平效率低下的技术问题。
本发明的第一方面提供一种载片平台调平方法,应用于检测装置,所述检测装置包括相机、物镜,以及用于承载生物芯片的载片平台,所述方法包括:基于所述物镜的自动对焦功能获取生物芯片的N个FOV分别对应的Z轴坐标,N为大于1的正整数;根据所述N个FOV分别对应的Z轴坐标确定对所述载片平台是否粗调成功;及若对所述载片平台粗调成功,基于所述相机拍摄的图像对所述载片平台进行精调。
优选地,所述N等于4,所述N个FOV分别对应的Z轴坐标为Z(a)、Z(b)、Z(c)、Z(d),其中,Z轴坐标Z(a)和Z(b)分别对应的FOV位于所述生物芯片的两条短边的中点的连线上,Z轴坐标Z(c)和Z(d)分别对应的FOV位于所述生物芯片的两条长边的中点的连线上。
优选地,所述根据所述N个FOV分别对应的Z轴坐标确定对所述载片平台是否粗调成功包括:当Z(a)-Z(b)≤A且Z(c)-Z(d)≤B时,确定对所述载片平台粗调成功,其中,A和B分别为预先设定的值;或当Z(a)-Z(b)A及/或Z(c)-Z(d)B时,确定对所述载片平台粗调失败。
优选地,所述基于所述相机拍摄的图像对所述载片平台进行精调包括:获取M张图像,其中,所述M为大于1的正整数;为所述M张图像中的每张图像的四个角落区域分别计算分值;及基于所述M张图像中的每张图像的每个角落区域分别对应的分值确定对所述载片平台是否精调成功。
优选地,所述获取M张图像包括:控制XY平台带动所述载片平台移动,将所述生物芯片的指定的FOV移动至所述物镜的正下方;控制所述物镜自动对焦;于所述物镜对焦成功时,将所述物镜当前所在位置确定为参照位置;利用Z轴电机控制器控制Z轴电机带动所述物镜基于所述参照位置上移第一预设距离到达基准位置;及于所述物镜自所述基准位置每下移第二预设距离时获取所述物镜所在位置的Z轴坐标并控制相机拍摄一张图像;将所拍摄获得的图像与所述物镜所在位置的Z轴坐标建立关联。
优选地,所述为M张图像中的每张图像的四个角落区域分别计算分值包括:对所述M张图像中的每张图像分别选取所述四个角落区域;为每张图像的所述四个角落区域中的每个角落区域分别计算分值,获得每张图像的每个角落区域所对应的分值;及将每张图像的每个角落区域所对应的分值与该每张图像关联的Z轴坐标建立关联,获得每张图像的每个角落区域所对应的分值及对应的Z轴坐标。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于武汉华大智造科技有限公司,未经武汉华大智造科技有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/202011301803.2/2.html,转载请声明来源钻瓜专利网。