[发明专利]串行存储器数据读取频率设置方法在审
申请号: | 202011308191.X | 申请日: | 2020-11-20 |
公开(公告)号: | CN112420112A | 公开(公告)日: | 2021-02-26 |
发明(设计)人: | 汪齐方;陈涛 | 申请(专利权)人: | 普冉半导体(上海)股份有限公司 |
主分类号: | G11C29/02 | 分类号: | G11C29/02;G11C29/36 |
代理公司: | 上海浦一知识产权代理有限公司 31211 | 代理人: | 王江富 |
地址: | 201210 上海*** | 国省代码: | 上海;31 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 串行 存储器 数据 读取 频率 设置 方法 | ||
本发明公开了一种串行存储器数据读取频率设置方法,用户能够通过存储器操作系统更新模式数据,能够得到一种工作条件下的多种模式数据下的能正确读取存储器的1及0的最快读取频率,从而能以多种模式数据中的能正确读取存储器的1及0的最快读取频率中的最慢频率为根据,进行该种工作条件下的串行存储器数据读取的频率设置,得到该种工作条件下各种模式数据均能保证存储器数据正确读取的最快串行存储器数据读取频率,用户可以自己通过存储器操作系统自由配置模式数据,大大降低了实际存储器数据读取时的错误读取风险。
技术领域
本发明涉及存储器技术,特别涉及一种串行存储器数据读取频率设置方法。
背景技术
在串行存储器的应用中,由于设计读取速度越来越高,频率越来越快,存储器操作系统读取数据的频率和存储器PIN(引脚)的寄生电容电阻以及电感都有相关性。而且,在不同电压和温度条件下,数据输出频率也是不相同的。为了能提高存储器操作系统的存储器读频率,用户一般不会在一个固定时间内抓取数据,而是根据存储器封装的实际环境,先预测试读取数据0和1的速度,然后据此速度来读取数据,从而提高了读取数据的灵活性,增加了系统的传输频率。
在传统的串行存储器设计中,读取存储器的数据的顺序一般是:下读取数据命令,下读取数据地址,等待n个dummy(等待)时钟,然后在时钟下降沿或上升沿输出数据。
为了预测试读取数据0和1的速度,一般在等待n个dummy时钟的时候,预测试读取数据0和1的频率,这样用户可以拿预定模式数据和读取的数据进行比对,并能够动态调节读出数据所需的时间,并在实际读出数据时以此能够准确读出数据所需的最短时间为依据,再增加一点读出数据的冗余时间,就可以在最快频率下读取数据。
现有的串行存储器数据读取频率设置方法,是在存储器内的只读存储区预存模式数据,由于模式数据是存储在只读存储区,存储器操作系统不能更改,这样存储器操作系统预测试时读到的模式数据(数据类型)是固定的,并不能覆盖全部的可能用到的所有模式数据,由于数据的前后关系也会影响到数据输出的频率,所以根据预测试确定的存储器数据读取频率进行实际存储器数据读取,会存在一定的错误读取风险。
发明内容
本发明要解决的技术问题是提供一种串行存储器数据读取频率设置方法,用户可以自己通过存储器操作系统自由配置模式数据,大大降低了实际存储器数据读取时的错误读取风险。
为解决上述技术问题,本发明提供串行存储器数据读取频率设置方法,存储器中设置有测试存储区及主存储区;
所述测试存储区为可读可写,用于预存模式数据;
所述主存储区为可读可写;
存储器操作系统设置有测试存储区写指令及主存储区写指令,测试存储区写指令、主存储区写指令为两种不同的指令;
存储器操作系统向存储器发出测试存储区写指令及模式数据时,将模式数据更新写入到测试存储区;
存储器操作系统向主存储区发出主存储区读指令及存储地址时,在等待时钟期间内,在时钟下降沿或上升沿从测试存储区读出模式数据,在等待时钟期间后,在时钟下降沿或上升沿从主存储区的相应存储地址的存储单元读出主存数据;
包括以下步骤:
一.存储器操作系统向存储器发出测试存储区写指令及模式数据,将模式数据更新写入到测试存储区;
二.存储器操作系统向主存储区发出主存储区读指令及存储地址,以设定频率在等待时钟期间内从测试存储区读取模式数据,在等待时钟期间后,在时钟下降沿或上升沿从主存储区的相应存储地址的存储单元读出主存数据;
三.将在等待时钟期间内读出的模式数据,和预写入测试存储区的模式数据进行比对,如果一致则判断为能正确读取存储器;
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