[发明专利]存储单元、掩膜版以及SRAM器件在审

专利信息
申请号: 202011311964.X 申请日: 2020-11-20
公开(公告)号: CN114520230A 公开(公告)日: 2022-05-20
发明(设计)人: 崔丛丛 申请(专利权)人: 中芯国际集成电路制造(上海)有限公司;中芯国际集成电路制造(北京)有限公司
主分类号: H01L27/11 分类号: H01L27/11;H01L21/8244
代理公司: 上海知锦知识产权代理事务所(特殊普通合伙) 31327 代理人: 吴凡
地址: 201203 上海市浦东新*** 国省代码: 上海;31
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摘要:
搜索关键词: 存储 单元 掩膜版 以及 sram 器件
【说明书】:

一种存储单元、掩膜版以及SRAM器件,存储单元包括:基底,基底包括沿第一方向并行排布的电源区、位线区和接地区,且在第二方向上,位线区位于电源区和接地区之间,第二方向和第一方向垂直;位线金属层,位于位线区,且位线金属层沿第一方向延伸;多个分立的接地金属层,沿第一方向排布于接地区;多个分立的电源金属层,沿第一方向排布于电源区。本申请实施例中,在第一方向上,多个电源金属层间隔排布,电源金属层呈岛状(island),与位线金属层之间的空间更大,从而多个间隔排布的电源金属层与位线金属层的电容耦合效应较弱,在存储单元工作时,能够降低存储单元的RC延迟,提高存储单元的读取性能。

技术领域

本申请实施例涉及半导体制造领域,尤其涉及一种存储单元、掩膜版以及SRAM器件。

背景技术

在目前的半导体产业中,集成电路产品主要可分为三大类型:逻辑、存储器和模拟电路,其中存储器件在集成电路产品中占了相当大的比例。随着半导体技术发展,对存储器件进行更为广泛的应用,需要将所述存储器件与其他器件区同时形成在一个芯片上,以形成嵌入式半导体存储装置。例如将所述存储器件内嵌置于中央处理器,则需要使得所述存储器件与嵌入的中央处理器平台进行兼容,并且保持原有的存储器件的规格及对应的电学性能。

一般地,需要将所述存储器件与嵌入的标准逻辑装置进行兼容。对于嵌入式半导体器件来说,其通常分为逻辑区和存储区,逻辑区通常包括逻辑器件,存储区则包括存储器件。随着存储技术的发展,出现了各种类型的半导体存储器,例如静态随机随机存储器(SRAM,Static Random Access Memory)、动态随机存储器(DRAM,Dynamic Random AccessMemory)、可擦除可编程只读存储器(EPROM,Erasable Programmable Read-Only Memory)、电可擦除可编程只读存储器(EEPROM,Electrically Erasable Programmable Read-Only)和闪存(Flash)。由于静态随机存储器具有低功耗和较快工作速度等优点,使得静态随机存储器及其形成方法受到越来越多的关注。

SRAM单元具有在不需要刷新的情况下保存数据的优点。随着对集成电路速度的要求越来越高,SRAM单元的读取速度和写入速度也变得更加重要。此外,分别需要足够的读裕度和写裕度来实现可靠的读写操作。然而,随着已经非常小的SRAM单元的持续缩小,这些要求变得越来越苛刻。

发明内容

本申请实施例解决的问题是提供一种存储单元、掩膜版以及SRAM器件,提升器件的电学性能。

为解决上述问题,本申请实施例提供一种存储单元,包括:基底,所述基底包括沿第一方向并行排布的电源区、位线区和接地区,且在第二方向上,所述位线区位于所述电源区和接地区之间,所述第二方向和第一方向垂直;位线金属层,位于所述位线区,且位线金属层沿所述第一方向延伸;多个分立的接地金属层,沿第一方向排布于所述接地区;多个分立的电源金属层,沿第一方向排布于所述电源区。

相应的,本申请实施例还提供一种掩膜版,用于形成存储单元,所述存储单元包括半导体结构,所述半导体结构包括:基底,所述基底包括沿第一方向并行排布的电源区、位线区和接地区,且在第二方向上,所述位线区位于所述电源区和接地区之间,所述第二方向和第一方向垂直;所述掩膜版,其特征在于,包括:位线金属图形,用于在所述位线区中形成沿第一方向延伸的位线金属层;多个间隔排布的接地金属图形,用于在所述接地区中形成多个沿第一方向分立的接地金属层;多个间隔排布的电源金属图形,用于在所述电源区中形成多个沿第一方向分立的电源金属层。

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