[发明专利]产品测试点碰撞测试方法及设备

说明书

本公开涉及一种产品测试点碰撞测试方法及设备，该方法包括：对于设置在产品旋转位置处的具有预设姿态角的产品，根据所述产品的测试点的第一空间位置，控制所述产品旋转，以使旋转后的所述产品的所述测试点在预设的第二空间位置处；对旋转后的所述产品的所述测试点进行碰撞测试。本公开实施例根据产品测试点的空间位置，自动旋转产品以调整产品测试点至特定空间位置，以避免出现因人为调整所带来的人为偏差，可保证产品测试效果。

技术领域

本公开实施例涉及机电技术领域，更具体地，涉及产品测试点碰撞测试方法及设备。

背景技术

在微电声产品的组装生产或者实验测试过程中，通常会涉及到产品碰撞测试。以球状产品为例，在产品的测试点正朝向测试板的情况下跌落产品，以使产品跌落至测试板上时，产品测试点与测试板间发生碰撞，从而实现对产品测试点的碰撞测试。

目前，可以人为调整产品姿态角以使产品的测试点正朝向测试板，然后跌落产品。

但现有实现方式不可避免的存在人为偏差，影响产品测试效果。

发明内容

本公开实施例的一个目的是提供一种产品测试点碰撞测试的新的技术方案。

根据本公开的第一方面，提供了一种产品测试点碰撞测试方法，包括：对于设置在产品旋转位置处的具有预设姿态角的产品，根据所述产品的测试点的第一空间位置，控制所述产品旋转，以使旋转后的所述产品的所述测试点在预设的第二空间位置处；对旋转后的所述产品的所述测试点进行碰撞测试。

可选地，在所述控制所述产品旋转之前，所述方法还包括：构建以所述产品的中心为坐标原点的空间直角坐标系；

所述根据所述产品的测试点的第一空间位置，控制所述产品旋转，以使旋转后的所述产品的所述测试点在预设的第二空间位置处，包括：确定所述产品的测试点的第一空间位置在所述空间直角坐标系中的第一空间坐标；确定预设的第二空间位置在所述空间直角坐标系中的第二空间坐标；根据所述空间直角坐标系、所述第一空间坐标和所述第二空间坐标，控制所述产品旋转，以使旋转后的所述产品的所述测试点在所述空间直角坐标系中的空间坐标为所述第二空间坐标。

可选地，所述空间直角坐标系的Z轴的负轴指向并垂直于测试板；

所述第二空间坐标在所述空间直角坐标系的X轴上的值为0；

所述第二空间坐标在所述空间直角坐标系的Y轴上的值为0；

所述第二空间坐标在所述Z轴上的值为负值；

所述对旋转后的所述产品的所述测试点进行碰撞测试，包括：控制旋转后的所述产品沿重力方向下落，以在旋转后的所述产品下落至所述测试板处的情况下，旋转后的所述产品的所述测试点碰撞所述测试板。

可选地，所述控制旋转后的所述产品沿重力方向下落，包括：释放旋转后的所述产品使得旋转后的所述产品被释放后进行自由落体；或者，带动旋转后的所述产品自由落体至一定高度的情况下，释放旋转后的所述产品使得旋转后的所述产品被释放后进行自由落体。

可选地，所述第二空间坐标在所述空间直角坐标系的X轴上的值为0；

所述第二空间坐标在所述空间直角坐标系的Y轴上的值为0；

所述根据所述空间直角坐标系、所述第一空间坐标和所述第二空间坐标，控制所述产品旋转，包括：在固定所述坐标原点的情况下，根据所述第一空间坐标和所述第二空间坐标，控制所述产品分别绕所述X轴和所述Y轴进行旋转，使得所述产品绕所述X轴旋转后所述测试点在所述Y轴上的值为0、所述产品绕所述Y轴旋转后所述测试点在所述X轴上的值为0。