[发明专利]一种集成电路测试中site的管控方法及系统

权利要求书

1.一种集成电路测试中site的管控方法，其特征在于，包括：

步骤1，获取bin值排序文件；

步骤2，统计集成电路并行测试中每个bin值在不同site下出现的个数，生成统计表；

步骤3，根据所述bin值排序文件，对统计表中不符合要求的数据进行剔除，生成优化后的统计表；

步骤4，根据优化后的统计表计算bin值百分比；

步骤5，根据所述bin值百分比判断site是否可控。

2.根据权利要求1所述的一种集成电路测试中site的管控方法，其特征在于，步骤2具体为：

统计每个bin值在不同site间出现的个数，生成第一数据，统计每个site下的不同bin值的个数，生成第二数据，根据所述第一数据及所述第二数据生成统计表。

3.根据权利要求2所述的一种集成电路测试中site的管控方法，其特征在于，步骤3具体为：

根据所述bin值排序文件，依次对每一个bin值进行测试，当测试结果为错误时，从发生错误的bin值的第一数据中删除该bin值之前的所有测试结果为错误的bin值的第一数据，得到第三数据，根据所述第三数据生成优化后的统计表。

4.根据权利要求3所述的一种集成电路测试中site的管控方法，其特征在于，步骤4具体为：

根据所述第二数据及所述第三数据，计算bin值百分比。

5.根据权利要求1所述的一种集成电路测试中site的管控方法，其特征在于，步骤5具体为：

根据所述bin值百分比，计算site间的差值，将差值与阈值进行比较，若在范围内，则，site可控，bin值正常，若不在范围内，则，site不可控，bin值异常。

6.一种集成电路测试中site的管控系统，其特征在于，包括：

获取模块，用于获取bin值排序文件；

统计模块，用于统计集成电路并行测试中每个bin值在不同site下出现的个数，生成统计表；

优化模块，用于根据所述bin值排序文件，对统计表中不符合要求的数据进行剔除，生成优化后的统计表；

计算模块，用于根据优化后的统计表计算bin值百分比；

判断模块，用于根据所述bin值百分比判断site是否可控。

7.根据权利要求6所述的一种集成电路测试中site的管控系统，其特征在于，统计模块还用于：

统计每个bin值在不同site间出现的个数，生成第一数据，统计每个site下的不同bin值的个数，生成第二数据，根据所述第一数据及所述第二数据生成统计表。

8.根据权利要求7所述的一种集成电路测试中site的管控系统，其特征在于，优化模块具体用于：

根据所述bin值排序文件，依次对每一个bin值进行测试，当测试结果为错误时，从发生错误的bin值的第一数据中删除该bin值之前的所有测试结果为错误的bin值的第一数据，得到第三数据，根据所述第三数据生成优化后的统计表。

9.根据权利要求8所述的一种集成电路测试中site的管控系统，其特征在于，计算模块具体用于：

根据所述第二数据及所述第三数据，计算bin值百分比。

10.根据权利要求6所述的一种集成电路测试中site的管控系统，其特征在于，判断模块具体用于：

根据所述bin值百分比，计算site间的差值，将差值与阈值进行比较，若在范围内，则，site可控，bin值正常，若不在范围内，则，site不可控，bin值异常。