[发明专利]一种触控显示面板漏光分析方法和触控显示面板及制作方法

权利要求书

1.一种触控显示面板漏光分析方法，其特征在于，包括如下步骤：

步骤S1：点亮触控显示面板，使之显示黑态画面；

步骤S2：依次切断所述触控显示面板中的各类信号线，然后观察所述触控显示面板的漏光点在某一类信号线被切断后是否消失，若消失则判定漏光点的产生与该类信号线有关；

步骤S3：根据漏光点的位置以及所述触控显示面板的膜层结构，分析被判定与漏光点的产生有关的信号线上产生干扰电场的位置；

所述触控显示面板中的各类信号线包括扫描线、数据线和触控线，在步骤S2中，若判定漏光点的产生与所述扫描线有关，则向所述扫描线中输入不同的电压信号，向所述数据线中依次输入不同且极性相反的电压信号，向所述触控线中输入恒定的电压信号，若所述扫描线和数据线之间的电压差发生变化时，漏光点的亮度不随着发生变化的话，则排除漏光点的亮度与所述扫描线和数据线之间的电压差存在关系，判定漏光点的亮度与所述扫描线和触控线之间的电压差存在关系。

2.根据权利要求1所述的触控显示面板漏光分析方法，其特征在于，在步骤S2中，判定漏光点的产生与某一类信号线有关后，还包括：对判定结果进行验证。

3.根据权利要求2述的触控显示面板漏光分析方法，其特征在于，对判定结果进行验证的方法为：向被判定有关的某一类信号线中依次输入不同电压信号，向其他类信号线中输入恒定电压信号，然后观察漏光点的亮度变化，若漏光点的亮度发生变化，则验证通过。

4.根据权利要求1所述的触控显示面板漏光分析方法，其特征在于，在步骤2中，采用镭射激光依次切断所述触控显示面板中的各类信号线。