[发明专利]评价装置、评价方法、存储介质以及计算机装置

说明书

本发明旨在提供可以抑制作为测量对象的立体物的测量面形状的影响，以高精度测量立体物体的表面品质的评价装置、评价方法、存储介质以及计算机装置。评价装置(200)具备照明装(202)，用于向测量对象物(S)的表面照射光；摄像装置(203)，用于取得所述测量对象物(S)的表面的图像；以及，图像评价部(42)，用于将所取得的图像之中的规定区域作为评价区域，评价所述测量对象物的品质，所述图像评价部设定的所述评价区域位于所述图像之中，受到所述照明装置照射的光所照亮的所述测量对象物表面上的区域，即照明区域的内侧。

技术领域

本发明涉及评价装置、评价方法、存储介质以及计算机装置。

背景技术

各种产品表面品品质检查查是众所周知的产品外观质量管理方法之一。关于这种表面品质检查，如有类似瑕疵、斑点、类似凹凸的表面缺陷，或被称为色差、色 斑的涂装面表面缺陷的检查。

另一方面，上述品质检查有非常有自动化的需求，随此，还要求对品质检查标 准进行定量处理。其中，对于表面瑕疵之类的表面缺陷，由于照相机等摄影技术的 提高，在各种表面上进行定量评价相对容易(如参见专利文献1等)。

但是，对于涂装表面的缺陷，评价项目则是美观和色调，难以作机械性判断， 而且观察到的对象随着照明方式等的改变而变化，存在难以进行缺陷判断的问题。

目前为了解决上述问题，存在例如用于定量测量外观差别的测量方法(如参见 专利文献2、3等)，但是，尤其是在评价形状复杂的立体物时，依然存在测量面的 形状和照明装置的位置关系对精度等产生影像的问题，定量评价十分困难。

专利文献1：JP特开2011-075534号公报

专利文献2：JP特开2018-151165号公报

专利文献3：JP特开2018-009988号公报

发明内容

鉴于上述问题，本发明旨在提供一种在测量对象为立体物体时能够抑制测量面形状的影响，以高精度测量立体物体的表面品质的评价装置。

为了达到上述目的，本发明提供的评价装置具备，照明装置，用于向测量对象 物的表面照射光；摄像装置，用于取得所述测量对象物的表面的图像；以及，图像 评价部，用于将所取得的图像之中的规定区域作为评价区域，评价所述测量对象物 的品质，所述图像评价部设定的所述评价区域位于所述图像之中，受到所述照明装 置照射的光所照亮的所述测量对象物表面上的区域，即照明区域的内侧。

根据本发明的效果在于，当测量对象为立体物时，能够抑制测量面形状的影响，以高精度测量立体物的表面品质。

附图说明

图1是本发明实施方式涉及的评价系统整体构成的示意图。

图2是本发明实施方式涉及的评价系统的动作流程图。

图3是用图1所示的评价系统拍摄的图像的示意图。

图4是本发明的评价领域的示意图。

图5是入射样品的光的反射方向的示意图。

图6是图3所示的评价领域的另一示意图。

图7是图3所示的评价领域的另一示意图。

图8是本发明实施方式涉及的样品测量结果的示意图。

图9是本发明实施方式涉及的另一个样品测量结果的示意图。

图10是本发明的变形例涉及的具有照明扩大部的评价系统整体构成的示意图。

图11是本发明变形例涉及的另一个具有照明扩大部的评价系统整体构成的示 意图。