[发明专利]触控面板缺陷检测系统及触控面板缺陷检测方法

权利要求书

1.一种触控面板缺陷检测系统，其特征在于，所述系统包括触控面板扫描设备、图案缺陷定位设备、图像扫描设备、图像处理设备及图像抓取设备；

所述触控面板扫描设备，用于对待检测触控面板进行扫描，以判定所述待检测触控面板的触控图案是否存在缺陷，其中，所述触控面板扫描设备包括交流信号源、信号发射传感器、信号接收传感器及信号分析装置，所述交流信号源与信号发射传感器连接，所述信号发射传感器通过与所述待检测触控面板的触控图案之间形成的电容发送交流信号，所述信号接收传感器通过与所述待检测触控面板的触控图案之间形成的电容接收所述交流信号，所述信号分析装置和信号接收传感器连接，用于根据所述信号接收传感器接收到的所述交流信号的波形变化判断所述待检测触控面板的触控图案是否存在缺陷；

所述图案缺陷定位设备，用于在所述待检测触控面板的触控图案存在缺陷时，在所述待检测触控面板上定位触控图案缺陷所在的目标位置区域；

所述图像扫描设备，用于扫描获取所述目标位置区域的图像；

所述图像处理设备，用于对所述目标位置区域的图像进行图像处理，确定所述目标位置区域是否存在使所述触控面板无法正常工作的致死缺陷，若存在致死缺陷，则将所述致死缺陷的位置信息发送给所述图像抓取设备；

所述图像抓取设备，用于根据所述致死缺陷的位置信息抓取所述致死缺陷对应位置的图像。

2.如权利要求1所述的触控面板缺陷检测系统，其特征在于，所述图像处理设备具体用于：

对所述目标位置区域的图像进行灰度处理，得到所述目标位置区域的灰度图像；

检测所述目标位置区域的灰度图像中是否存在灰度值异常的目标像素点，在存在所述目标像素点时，判定位置区域中存在缺陷，并根据目标像素点的位置信息确定缺陷的位置信息；

将该缺陷所对应的灰度图像与预先配置好的致死缺陷样本库中的样本图像进行匹配，在匹配成功时，将该缺陷确定为致死缺陷，并将该缺陷的位置信息作为致死缺陷的位置信息。

3.如权利要求2所述的触控面板缺陷检测系统，其特征在于，所述图像处理设备还用于：

计算所述目标位置区域的灰度图像中各像素点的灰度值与预设的基准灰度值的差值，并将计算得到的每个差值与预设的灰度值阈值进行比较，将差值大于灰度值阈值的像素点作为目标像素点；或

将目标位置区域划分为多个具有相同触控图案的子区域，将相邻的各个子区域灰度图像进行灰度值比较，在一目标子区域灰度图像中存在像素点的灰度值与相邻子区域灰度图像中对应像素点的灰度值差异大于预设灰度值阈值时，判定该像素点为目标像素点。

4.如权利要求3所述的触控面板缺陷检测系统，其特征在于，所述图像处理设备还用于：

在所述目标位置区域包括多个致死缺陷时，采用预先配置好的致死缺陷样本库对所述多个致死缺陷进行分类，其中，所述致死缺陷的分类包括同层触控图案的短路、同层触控图案的断路及不同层触控图案的短路。

5.如权利要求4所述的触控面板缺陷检测系统，其特征在于，所述图像抓取设备具体用于：

根据各个致死缺陷的位置信息及对应的分类，基于预先配置的致死缺陷的分类优先级，对所述多个类别的致死缺陷按照优先级顺序进行抓取。