[发明专利]触控面板缺陷检测系统及触控面板缺陷检测方法

说明书

本申请实施例提供的触控面板缺陷检测系统及触控面板缺陷检测方法，对待检测触控面板进行缺陷扫描，在待检测触控面板存在缺陷时，通过图案缺陷定位设备定位缺陷所在的目标位置区域；在目标位置区域的图像中找到致死缺陷的精确位置；从而获取到致死缺陷的图像。上述方案能够从定位的目标位置区域中精确抓拍致死缺陷的图案，提高致死缺陷图像的抓拍准确率，进而有效的对触控面板的触控图案进行缺陷检测。

技术领域

本申请涉及触控技术领域，具体而言，涉及一种触控面板缺陷检测系统及触控面板缺陷检测方法。

背景技术

触控面板一般包括由不同的触控电极形成的触控图案。在触控面板制作完成之后，若触控图案存在缺陷，则会影响触控面板的触控效果。因此，如何对触控面板上的触控图案进行有效的缺陷检测显得极为重要。

发明内容

为了克服上述技术背景中所提及的技术问题，本申请实施例提供一种触控面板缺陷检测系统及触控面板缺陷检测方法。

本申请的第一方面，提供一种触控面板缺陷检测系统，所述系统包括触控面板扫描设备、图案缺陷定位设备、图像扫描设备、图像处理设备及图像抓取设备；

所述触控面板扫描设备，用于对待检测触控面板进行扫描，以判定所述待检测触控面板的触控图案是否存在缺陷；

所述图案缺陷定位设备，用于在所述待检测触控面板的触控图案存在缺陷时，在所述待检测触控面板上定位触控图案缺陷所在的目标位置区域；

所述图像扫描设备，用于扫描获取所述目标位置区域的图像；

所述图像处理设备，用于对所述目标位置区域的图像进行图像处理，确定所述目标位置区域是否存在使所述触控面板无法正常工作的致死缺陷，若存在致死缺陷，则将所述致死缺陷的位置信息发送给所述图像抓取设备；

所述图像抓取设备，用于根据所述致死缺陷的位置信息抓取所述致死缺陷对应位置的图像。

在本申请的一种可能实施例中，所述触控面板扫描设备包括交流信号源、信号发射传感器、信号接收传感器及信号分析装置；

所述交流信号源与所述信号发射传感器连接，所述信号发射传感器通过与所述待检测触控面板的触控图案之间的电容发送交流信号，以使交流信号在所述触控图案中传输；

所述信号接收传感器通过与所述待检测触控面板的触控图案之间的电容感应所述交流信号得到接收信号；

所述信号分析装置与所述信号接收传感器连接，用于根据所述接收信号的波形变化判断所述待检测触控面板的触控图案是否存在缺陷。

在本申请的一种可能实施例中，所述图像处理设备具体用于：

对所述目标位置区域的图像进行灰度处理，得到所述目标位置区域的灰度图像；

检测所述目标位置区域的灰度图像中是否存在灰度值异常的目标像素点，在存在所述目标像素点时，判定位置区域中存在缺陷，并根据目标像素点的位置信息确定缺陷的位置信息；

将该缺陷所对应的灰度图像与预先配置好的致死缺陷样本库中的样本图像进行匹配，在匹配成功时，将该缺陷确定为致死缺陷，并将该缺陷的位置信息作为致死缺陷的位置信息。

在本申请的一种可能实施例中，所述图像处理设备还具体用于：

计算所述目标位置区域的灰度图像中各像素点的灰度值与预设的基准灰度值的差值，并将计算得到的每个差值与预设的灰度值阈值进行比较，将差值大于灰度值阈值的像素点作为目标像素点；或

将目标位置区域划分为多个具有相同触控图案的子区域，将相邻的各个子区域灰度图像进行灰度值比较，在一目标子区域灰度图像中存在像素点的灰度值与相邻子区域灰度图像中对应像素点的灰度值差异大于预设灰度值阈值时，判定该像素点为目标像素点。