[发明专利]联合收割机在审

专利信息
申请号: 202011354085.5 申请日: 2020-11-27
公开(公告)号: CN112868364A 公开(公告)日: 2021-06-01
发明(设计)人: 渡边俊树;佐野友彦;吉田脩;川畑翔太郎 申请(专利权)人: 株式会社久保田
主分类号: A01D41/02 分类号: A01D41/02;A01D41/127
代理公司: 北京市柳沈律师事务所 11105 代理人: 张思宝
地址: 日本*** 国省代码: 暂无信息
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摘要:
搜索关键词: 联合收割机
【说明书】:

本发明的联合收割机能够以适当的脱粒深度对割取谷秆进行脱粒,其具备:秆长检测装置,其检测正在由输送装置从割取部向脱粒装置输送的割取谷秆的秆长;脱粒深度调节机构,其能够改变通过脱粒装置进行脱粒处理的割取谷秆的脱粒深度;脱粒深度控制部,其能够进行手动调节控制及自动调节控制,自动调节控制基于手动操作件的操作使脱粒深度调节机构调节割取谷秆的脱粒深度,自动调节控制基于秆长检测装置的检测状态使脱粒深度调节机构调节割取谷秆的脱粒深度;判定部,其判定割取谷秆的脱粒深度为浅脱粒但割取谷秆被检测为长杆的异常状态;若判定出异常状态,则脱粒深度控制部进行使脱粒深度调节机构向深脱粒侧改变割取谷秆的脱粒深度的深脱粒控制。

技术领域

本发明涉及一种具备割取田地的植立谷秆的割取部和将由割取部割取的割取谷秆向脱粒装置输送的输送装置的联合收割机。

背景技术

例如如专利文献1所示,在以往的联合收割机中,设有对利用输送装置从割取部送至脱粒装置的割取谷秆(文献中的“搬送穀稈(参考用中文译文:输送谷秆)”)的穗尖位置进行检测的秆长检测装置。基于该秆长检测装置的检测状态,对调节脱粒装置的脱粒深度的脱粒深度调节机构进行控制,以适当的目标脱粒深度对割取谷秆进行脱粒。

现有技术文献

专利文献

专利文献1:日本特开2019-4771号公报

发明内容

发明所要解决的技术问题

然而,在专利文献1公开的秆长检测装置中,由于割取谷秆的穗尖通过秆长检测装置,因此若附着于割取谷秆的秸秆屑、杂草等缠绕而堆积在秆长检测装置,则该秆长检测装置的检测状态有可能始终为长杆。这样的话,担心即使在割取谷秆的穗尖未通过秆长检测装置的情况下,也会基于秆长检测装置的检测状态而将脱粒深度调节机构向浅脱粒侧控制,割取谷秆不是以原来的适当的脱粒深度,而是以浅脱粒状态进行脱粒处理。

鉴于这种实际情况,本发明的目的在于:提供一种即使在附着于割取谷秆的秸秆屑、杂草等缠绕于秆长检测装置的情况下也能够以适当的脱粒深度对割取谷秆进行脱粒的联合收割机。

用于解决技术问题的手段

本发明的联合收割机的特征在于,具备:割取部,其割取田地的植立谷秆;输送装置,其将由所述割取部割取的割取谷秆向脱粒装置输送;秆长检测装置,其检测正在由所述输送装置输送的所述割取谷秆的秆长;脱粒深度调节机构,其能够改变通过所述脱粒装置进行脱粒处理的所述割取谷秆的脱粒深度;脱粒深度控制部,其能够进行手动调节控制及自动调节控制,所述自动调节控制基于手动操作件的操作使所述脱粒深度调节机构调节所述割取谷秆的脱粒深度,所述自动调节控制基于所述秆长检测装置的检测状态使所述脱粒深度调节机构调节所述割取谷秆的脱粒深度;判定部,其基于所述秆长检测装置的检测状态和所述脱粒深度调节机构的状态,判定所述割取谷秆的脱粒深度为浅脱粒但所述割取谷秆被检测为长杆的异常状态;若利用所述判定部判定出所述异常状态,则所述脱粒深度控制部进行使所述脱粒深度调节机构向深脱粒侧改变所述割取谷秆的脱粒深度的深脱粒控制。

根据本发明,若割取谷秆的脱粒深度为浅脱粒但由秆长检测装置将割取谷秆检测为长杆,则脱粒深度调节机构向深脱粒侧改变割取谷秆的脱粒深度。因此,割取谷秆与秆长检测装置接触,缠绕于秆长检测装置的秸秆屑、杂草等与割取谷秆一起被运向输送方向下游侧。因此,秸秆屑、杂草等将不再缠绕于秆长检测装置,容易消除异常状态。而且,秆长检测装置将变得能够适当地检测割取谷秆的穗尖位置。由此,可实现这样一种联合收割机:即使在附着于割取谷秆的秸秆屑、杂草等缠绕于秆长检测装置的情况下,该联合收割机也能够以适当的脱粒深度对割取谷秆进行脱粒。

在本发明中,优选的是,所述脱粒深度控制部以使所述割取谷秆的脱粒深度变为最深的方式进行所述深脱粒控制。

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