[发明专利]一种支持多个PCIE卡的同时测试方法和系统

说明书

本发明提供一种支持多个PCIE卡的同时测试方法和系统。该方法包括：将多个PCIE卡分别通过物理接口插接于测试主机上；测试主机的操作系统监控到有多个PCIE卡接入，则分别启动多个测试进程；在每个测试进程下，启动PCIE卡配置空间监控线程；每个测试进程分别基于DMA高速通道的数量启动多个DMA测试线程组，并基于BAR低速通道的数量启动多个BAR测试线程组；在每个测试进程下，分别通过多个DMA测试线程组和BAR测试线程组异步测试各个DMA高速通道和BAR低速通道处理数据的准确性；针对每个PCIE卡，如果有超过预设阈值的测试线程组反馈DMA高速通道或BAR低速通道处理数据出错时，则判定所述PCIE卡的数据处理性能不合格，反之，性能合格。

技术领域

本发明涉及测试技术领域，尤其涉及一种支持多个PCIE卡的同时测试方法和系统。

背景技术

目前许多硬件设备（例如：PCIE卡）在开发完成后都需要进行性能测试。由于PCIE卡内通常会配置有多个DMA高速通道和BAR低速通道，在对PCIE卡的性能测试时，不仅需要考虑测试单个DMA通道的极限速度，还需要考虑多个DMA高速通道和多个BAR低速通道并行混合场景下的稳定性，对单张PCIE卡测试要求较高。另外，传统的测试方式一次只能实现对单张PCIE卡的测试工作。然而，在实际场景中，可能有多张PCIE卡均需要测试，则需要重复多次测试才能完成，测试效率不高；此外，即使有些测试方式（例如CN 107480017 A公开的PCIE外插卡的批量测试装置及方法）可以实现批量PCIE卡的测试，但是测试内容单一，并不能全面覆盖PCIE卡的各项性能。

发明内容

针对传统的PCIE卡测试方式效率低、测试内容单一的问题，本发明提供一种支持多个PCIE卡的同时测试方法和系统。

一方面，本发明提供一种支持多个PCIE卡的同时测试方法，包括：

步骤1：将多个PCIE卡分别通过物理接口插接于测试主机上，其中每个PCIE卡包括多个DMA高速通道、多个BAR低速通道以及配置空间，所述配置空间用于存储PCIE卡标识信息、DMA高速通道的数量、BAR低速通道的数量；

步骤2：所述测试主机的操作系统监控到有多个PCIE卡接入，则分别启动多个测试进程，且多个测试进程分别一一对应于多个PCIE卡；

步骤3：在每个测试进程下，启动PCIE卡配置空间监控线程，并识别到对应PCIE卡的配置空间中的PCIE卡标识信息、DMA高速通道的数量、BAR低速通道的数量；

步骤4：每个测试进程分别基于DMA高速通道的数量启动多个DMA测试线程组，并基于BAR低速通道的数量启动多个BAR测试线程组，其中，多个DMA测试线程组与多个DMA高速通道一一对应，多个BAR测试线程组与多个BAR低速通道一一对应；

步骤5：在每个测试进程下，通过多个DMA测试线程组异步测试各个DMA高速通道处理数据的准确性，并通过多个BAR测试线程组异步测试各个BAR低速通道处理数据的准确性；

步骤6：针对每个PCIE卡，在其对应的多个DMA测试线程组和多个BAR测试线程组中，如果有超过预设阈值的测试线程组反馈DMA高速通道或BAR低速通道处理数据出错时，则判定所述PCIE卡的数据处理性能不合格，反之，则判定所述PCIE卡的数据处理性能合格。

进一步地，每个DMA测试线程组包括用于向DMA高速通道发送测试数据的DMA发送线程和用于接收响应数据的DMA接收线程，每个BAR测试线程组包括用于向BAR低速通道发送测试数据的BAR发送线程和用于接收响应数据的BAR接收线程。

进一步地，所述步骤5具体包括：

步骤5.1：由DMA发送线程发送DMA测试数据给对应的DMA高速通道，并由BAR发送线程发送BAR测试数据给对应的BAR低速通道；