[发明专利]对用于IR光谱分析的光学表面的损伤的确定

说明书

提供了一种用于IR光谱分析并且用于对在IR光谱分析期间暴露于测量辐射(9)的表面(13、15)的损伤进行确定的装置(1)，其中该装置包括：用于产生测量辐射(9)的辐射源(7)；用于接纳样品(16)的样品容器(21)，其中该样品容器至少部分地由表面(13、15)限界；用于检测与所述样品(16)相互作用后的测量辐射(17)的检测器(19)，其中该装置被配置成：对接纳在所述样品容器中的参考样品的IR参考光谱(29、31、I_V)进行测量；评估参考光谱(29、31、I_V)，以确定损伤的指示标(S、S⁰、S₁)，其中评估包括对基于在预确定积分光谱范围(33)内的参考光谱(29、31、I_V)的量进行积分，其中所述指示标是根据积分的值(S)来确定的。

技术领域

本发明涉及一种用于IR光谱分析并且用于对在IR光谱分析期间暴露于测量辐射的表面的损伤进行确定的装置。本发明还涉及一种确定在IR光谱分析期间暴露于测量辐射的表面的损伤的方法，并且还涉及具有程序指令的计算机程序产品，该程序指令在由处理器执行时执行该方法。

背景技术

通过红外光谱仪，可以借助于吸收/透射测量来分析常规的红外活性物质。辐照测量辐射激发了样品中所含分子的旋转或振动模式，从而例如在透射或反射中，在特征波长状态下观察到辐照辐射的衰减。傅里叶变换红外光谱分析(FTIR)是红外光谱分析的特殊形式，其中可以在较短的时间段内记录宽光谱范围内的数据。

文献WO2007/126612 A2公开了一种污染监测，其与光学计量仪器一起使用，以使计量仪器的光路内的吸收物质最小化并且也使光学元件表面上的污染物的产生最小化。光学计量仪器可以例如在紫外线波长范围中工作。在测试样品的测量之前和之后测量参考样品，并且将两个参考测量值进行比较以确定污染物或确定污染。

文献US2016/231234 A1公开了一种用于通过近红外分光光度计确认清洁或用于测量清洁效果的方法。在清洁之前和之后，分别记录数据并进行比较以产生污染特征。

文献US9182280 B1公开了一种用于降低频率以记录FTIR或FTIR-ATR光谱分析中的背景光谱的方法。当先前存在的参考光谱可用时，在测量样品之前记录当前参考光谱。将当前参考光谱与先前存在的参考光谱进行比较，以确定两者之间是否存在不符合项。如果存在不符合项，则将其删除。

文献US2019/003952 A1公开了颗粒检测方法和系统，特别是流式细胞仪。此外，公开了用于确定流动单元中的污染程度的方法。流式细胞仪的整个构造以及所使用的物理方法和效果与红外光谱仪有很大的不同。

文献US2010/277727 A1公开了一种用于在分光光度计的光学测量比色杯中检测污染物的方法。将测得的参考光谱与和测量比色杯相关联的已知目标光谱进行比较，并自动确定测量比色杯中是否存在污染，即根据比较参数的预确定阈值来确定。

文献US2016/178435 A1公开了一种用于诊断钻孔工具的光谱仪的方法。记录钻孔工具的光谱仪的光学数据，并基于所选数据分别对光谱仪的光散射和光漂移进行估计和确定。根据对于测量的影响来估计量化基线漂移，并将该影响与阈值进行比较以诊断光谱仪的状态。

文献US6028663 A公开了一种对水悬浮液的光度分析，其中在光谱仪中消除了未被吸收和散射回去的光，从而能够在不对水进行任何处理的情况下实时分析未浓缩的水悬浮液。

用于确定测量光路中相关表面的污染的常规方法是详尽的，并且经常需要对参考样品进行至少两次测量。因此，常规方法和系统是复杂且耗时的。例如，现有技术的其他系统和方法定期地邀请用户清洁测量单元。该邀请是在没有预先确定单元的污染程度的情况下执行的。因此，清洁可能太频繁地执行，或者在其他情况下也可能太少地执行，其缺点分别是增加时间工作量和降低测量质量并且测量结果更不可靠。

发明内容