[发明专利]显示屏边缘缺陷检测方法和装置

权利要求书

1.一种显示屏边缘缺陷检测方法，其特征在于，包括以下步骤：

获取待测图像；

将所述待测图像与自身进行行向错位相减，得到第一图像；

将所述待测图像与自身进行列向错位相减，得到第二图像；

根据第一图像和第二图像，得到待测图像中显示屏的边缘图像；

采用多个不同角度的矩形滤波核对所述边缘图像进行滤波，得到多个滤波图像；

根据所述边缘图像中的目标像素点在各所述滤波图像中的最大值，对各所述目标像素点进行分类标记，所述目标像素点为所述边缘图像中构成边缘的像素点；

根据各所述目标像素点的标记，在多个方向不同的矩形膨胀结构元素中选择一个来对所述目标像素点进行膨胀处理，得到膨胀图像；

将所述膨胀图像和所述边缘图像中的各像素点进行对比，将在所述膨胀图像和所述边缘图像中的灰度值相等且位置相同的像素点取出，构成单边缘像素缺陷图；

将所述单边缘像素缺陷图依次进行元素膨胀和元素腐蚀处理后，与所述边缘图像作差，得到第三图像；

从所述第三图像中得到缺陷位置。

2.根据权利要求1所述的显示屏边缘缺陷检测方法，其特征在于，所述从所述第三图像中得到缺陷位置，具体为：

根据分割阈值对所述第三图像进行二值分割，得到二值图；

根据所述二值图中的数值为255的像素点的位置得到缺陷位置。

3.根据权利要求1所述的显示屏边缘缺陷检测方法，其特征在于，根据第一图像和第二图像，得到待测图像中显示屏的边缘图像，具体为：

根据第一图像和第二图像计算所述边缘图像中的每一个像素点值，其中，边缘图像中的每一个像素点值等于该像素点在第一图像的灰度值和在第二图像的灰度值的平方之和的平方根。

4.根据权利要求1所述的显示屏边缘缺陷检测方法，其特征在于，所述将所述待测图像与自身进行行向错位相减，得到第一图像，具体为：

将所述待测图像中的第n行像素点的灰度值与第n+r行同行像素点的灰度值相减，作为第一图像中第n行像素点的灰度值；

所述将所述待测图像与自身进行纵向错位相减，得到第二图像，具体为：

将所述待测图像中的第n列像素点的灰度值与第n+r列同列像素点的灰度值相减，作为第二图像中第n列像素点的灰度值；

其中，n和r为正整数。

5.根据权利要求4所述的显示屏边缘缺陷检测方法，其特征在于，所述采用多个不同角度的矩形滤波核对所述边缘图像进行滤波，得到多个滤波图像，包括：

采用方向为0°,15°，30°，45°,60°，75°,90°,105°,120°，135°,150°,165°的12个矩形滤波核对所述边缘图像进行滤波，得到12个滤波图像。

6.根据权利要求5所述的显示屏边缘缺陷检测方法，其特征在于，所述根据所述边缘图像中的目标像素点在各所述滤波图像中的最大值，对各所述目标像素点进行分类标记，具体为：

建立尺寸与所述待测图像相同的标志位图；

查找每个像素点在12个滤波图像中的最大值；

当所述像素点的最大值出现在滤波方向为0°、15°或者165°的滤波图片中，则将该像素点在所述标志位图中标记为第一值；

当所述像素点的最大值出现在滤波方向为30°、45°或者60°的滤波图片中，则将该像素点在所述标志位图中标记为第二值；

当所述像素点的最大值出现在滤波方向为75°、90°或者105°的滤波图片中，则将该像素点在所述标志位图中标记为第三值；

当所述像素点的最大值出现在滤波方向为120°、135°或者150°的滤波图片中，则将该像素点在所述标志位图中标记为第四值。