[发明专利]显示屏边缘缺陷检测方法和装置

说明书

本发明公开了一种显示屏边缘缺陷检测算法和装置，涉及图像检测技术，本方法通过错位相减得到的第一图像和第二图像来确定边缘图像，可以快速地提取图中的边缘缺陷，在通过矩形滤波核进行多方向的滤波，再根据多个滤波结果对像素点进行分类标记，再基于分类标记对像素点对边缘图像进行膨胀处理，然后和原图对比，利用膨胀处理时只有最大值点会与原图相同的特点，提取出最大值的单边缘像素缺陷图，对单边缘像素缺陷图进行膨胀和腐蚀处理后与边缘图像相减，即可获得缺陷的响应，即第三图像，通过对第三图像分析，可以获得缺陷的位置，本方案可以准确地提取显示屏边缘的微小缺陷。

技术领域

本发明涉及图像检测技术，尤其是一种显示屏边缘缺陷检测方法和装置。

背景技术

现有技术针对显示屏的缺陷检测方法有很多，大多数主要针对屏幕内的缺陷进行检测，比较少关注屏幕的边缘缺陷，但是这些边缘缺陷实际上也会影响到产品的品质。此外，边缘缺陷有很多不明显的小瑕疵，这些缺陷有两个特征，一是处于屏幕的边缘，二是与背景的差异度比较小。采用传统的图像增强算法和阈值划分算法来定位这些缺陷，不容易检出这些缺陷。

发明内容

为解决上述技术问题的至少之一，本发明的目的在于：提供一种显示屏边缘缺陷检测方法和装置以提升检测的准确率。

第一方面，本发明实施例提供了：

一种显示屏边缘缺陷检测算法，包括以下步骤：

获取待测图像；

将所述待测图像与自身进行行向错位相减，得到第一图像；

将所述待测图像与自身进行列向错位相减，得到第二图像；

根据第一图像和第二图像，得到待测图像中显示屏的边缘图像；

采用多个不同角度的矩形滤波核对所述边缘图像进行滤波，得到多个滤波图像；

根据所述边缘图像中的目标像素点在各所述滤波图像中的最大值，对各所述目标像素点进行分类标记；

根据各所述目标像素点的标记，在多个方向不同的矩形膨胀结构元素中选择一个来对所述目标像素点进行膨胀处理，得到膨胀图像；

将所述膨胀图像和所述边缘图像中的各像素点进行对比，将在所述膨胀图像和所述边缘图像中的灰度值相等且位置相同的像素点取出，构成单边缘像素缺陷图；

将所述单边缘像素缺陷图依次进行元素膨胀和元素腐蚀处理后，与所述边缘图像作差，得到第三图像；

从所述第三图像中得到缺陷位置。

在部分实施例中，所述从所述第三图像中得到缺陷位置，具体为：

根据分割阈值对所述第三图像进行二值分割，得到二值图；

根据所述二值图中的数值为255的像素点的位置得到缺陷位置。

在部分实施例中，根据第一图像和第二图像，得到待测图像中显示屏的边缘图像，具体为：

根据第一图像和第二图像计算所述边缘图像中的每一个像素点值，其中，边缘图像中的每一个像素点值等于该像素点在第一图像的灰度值和在第二图像的灰度值的平方之和的平方根。

在部分实施例中，所述将所述待测图像与自身进行行向错位相减，得到第一图像，具体为：

将所述待测图像中的第n行像素点的灰度值与第n+r行同行像素点的灰度值相减，作为第一图像中第n行像素点的灰度值；

所述将所述待测图像与自身进行纵向错位相减，得到第二图像，具体为：

将所述待测图像中的第n列像素点的灰度值与第n+r列同列像素点的灰度值相减，作为第二图像中第n列像素点的灰度值；