[发明专利]发光显示器件在审

专利信息
申请号: 202011373586.8 申请日: 2020-11-30
公开(公告)号: CN113066425A 公开(公告)日: 2021-07-02
发明(设计)人: 高杉亲知 申请(专利权)人: 乐金显示有限公司
主分类号: G09G3/32 分类号: G09G3/32;G09G3/00
代理公司: 北京集佳知识产权代理有限公司 11227 代理人: 康建峰;杨华
地址: 韩国*** 国省代码: 暂无信息
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摘要:
搜索关键词: 发光 显示 器件
【权利要求书】:

1.一种发光显示器件,其中像素电路检测和补偿布置成矩阵的多个子像素中的每个子像素中的驱动晶体管的阈值电压,所述发光显示器件包括:

阈值电压估计部,所述阈值电压估计部通过通过数据计数方法估计所述驱动晶体管的所述阈值电压来生成阈值电压估计值;

参考电压修改部,所述参考电压修改部通过基于所述阈值电压估计值修改用于检测所述阈值电压的参考电压来生成参考电压修改值;

图像数据电压修改部,所述图像数据电压修改部通过将与图像数据对应的数据电压与阈值电压检测值相加来生成图像数据电压修改值;以及

累积劣化计算部,所述累积劣化计算部通过累积所述数据电压的函数的劣化数据来计算累积劣化。

2.根据权利要求1所述的发光显示器件,其中,使用所述参考电压检测所述阈值电压作为所述阈值电压检测值。

3.根据权利要求1所述的发光显示器件,其中,所述阈值电压估计部估计所述多个子像素中的每个子像素中的所述驱动晶体管的所述阈值电压,并且

其中,所述累积劣化计算部通过累积所述多个子像素中的每个子像素的所述驱动晶体管的所述劣化数据来计算所述累积劣化。

4.根据权利要求3所述的发光显示器件,其中,同时执行对所述驱动晶体管的所述阈值电压的所述检测和补偿。

5.根据权利要求1所述的发光显示器件,其中,所述阈值电压估计部估计所述多个子像素中的全部子像素的所述驱动晶体管的阈值电压平均值,并且

其中,所述累积劣化计算部计算所述多个子像素中的全部子像素的所述驱动晶体管的所述累积劣化。

6.根据权利要求5所述的发光显示器件,其中,同时执行对所述驱动晶体管的所述阈值电压的所述检测和补偿。

7.根据权利要求5所述的发光显示器件,其中,以不同的时序执行对所述驱动晶体管的所述阈值电压的所述检测和补偿。

8.一种发光显示器件,包括:

布置成矩阵的多个子像素,所述多个子像素中的每个子像素包括具有驱动晶体管的电压补偿像素电路以及由于所述电压补偿像素电路的控制而发光的发光元件,所述电压补偿像素电路检测所述驱动晶体管的阈值电压作为阈值电压检测值以及补偿所述驱动晶体管的所述阈值电压;

时序控制器,所述时序控制器基于时序同步信号和数据电流来向连接至所述多个子像素的数据驱动电路和栅极驱动电路供应控制信号;以及

存储部,所述存储部记住所述多个子像素中的每个子像素的劣化数据和所述多个子像素的平均劣化数据中的一者,

其中,所述时序控制器使用通过数据计数方法得到的所述阈值电压的偏移量的阈值电压估计值来修改参考电压,并且使用所述阈值电压检测值来修改图像数据电压。

9.根据权利要求8所述的发光显示器件,其中,所述时序控制器通过累积所述多个子像素中的每个子像素的所述驱动晶体管的劣化数据来计算累积劣化,并且估计所述多个子像素中的每个子像素的所述驱动晶体管的所述阈值电压。

10.根据权利要求9所述的发光显示器件,其中,同时执行对所述驱动晶体管的所述阈值电压的所述检测和补偿。

11.根据权利要求8所述的发光显示器件,其中,所述时序控制器通过累积所述多个子像素中的每个子像素的所述驱动晶体管的劣化数据来计算累积劣化,并且估计所述多个子像素的所述驱动晶体管的阈值电压平均值。

12.根据权利要求11所述的发光显示器件,其中,同时执行对所述驱动晶体管的所述阈值电压的所述检测和补偿。

13.根据权利要求11所述的发光显示器件,其中,以不同的时序执行对所述驱动晶体管的所述阈值电压的所述检测和补偿。

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