[发明专利]发光显示器件

说明书

提供了一种发光显示器件，其中像素电路检测和补偿布置成矩阵的多个子像素中的每个子像素中的驱动晶体管的阈值电压。该发光显示器件包括：阈值电压估计部，阈值电压估计部通过通过数据计数方法估计驱动晶体管的阈值电压来生成阈值电压估计值；参考电压修改部，参考电压修改部通过基于阈值电压估计值修改用于检测阈值电压的参考电压来生成参考电压修改值；图像数据电压修改部，图像数据电压修改部通过将与图像数据对应的数据电压与阈值电压检测值相加来生成图像数据电压修改值；以及累积劣化计算部，累积劣化计算部通过累积数据电压的函数的劣化数据来计算累积劣化。

对相关申请的交叉引用

本申请要求2019年12月13日在日本专利局提交的日本专利申请第2019-225309号的优先权权益，其全部内容出于所有目的通过引用并入于此，如同在本文中完全阐述一样。

技术领域

本公开内容涉及发光显示器件，具体地涉及包括驱动晶体管的发光显示器件。

背景技术

近来，需要稳定地显示高品质的图像的发光显示器件。

在相关技术的发光显示器件中，由于子像素中的驱动薄膜晶体管的阈值电压由于劣化而偏移，因此无法获得稳定的高品质的图像显示。

结果，已提出了内部补偿像素电路，该内部补偿像素电路检测驱动晶体管的阈值电压并通过在发光显示器件的子像素中添加检测到的阈值电压来补偿数据电压。

例如，在日本专利公报第2011-242767号中，公开了将电压施加至参考电压线并检测阈值电压的技术。

在韩国专利公报第10-2014-0116702号中，作为另一示例公开了内部补偿像素电路。

然而，在内部补偿像素电路中，当驱动晶体管的阈值电压偏移进行时，流过驱动晶体管的电流在初始检测状态下不足。结果，不能检测阈值电压。

在美国专利第9349317号中，公开了一种数据计数方法，在该数据计数方法中根据图像数据的累积来推测阈值电压的偏移量，并基于该推测值执行补偿。

但是，阈值电压的推测值的准确度比阈值电压的检测值的准确度差。

发明内容

因此，本公开内容的实施方式涉及基本上消除了由于现有技术的限制和缺点而导致的问题中的一个或更多个问题的显示控制器件、显示器件以及控制显示器件的方法。

本公开内容的目的是提供一种发光显示器件，其中在驱动晶体管的初始检测状态下检测阈值电压，并且基于阈值电压的检测值执行补偿。

附加特征和方面将在随后的描述中阐述，并且部分将从描述中变得明显，或者可以通过实践本文中提供的发明构思来获知。本发明构思的其他特征和方面可以通过在书面描述或从其衍生出的内容、和其权利要求书以及附图中特别指出的结构来实现和获得。

为了实现本发明构思的这些和其他方面，如在本文中体现和广泛描述的，一种发光显示器件，其中像素电路检测和补偿布置成矩阵的多个子像素中的每个子像素中的驱动晶体管的阈值电压，该发光显示器件包括：阈值电压估计部，阈值电压估计部通过通过数据计数方法估计驱动晶体管的阈值电压来生成阈值电压估计值；参考电压修改部，参考电压修改部通过基于阈值电压估计值修改用于检测阈值电压的参考电压来生成参考电压修改值；图像数据电压修改部，图像数据电压修改部通过将与图像数据对应的数据电压与阈值电压检测值相加来生成图像数据电压修改值；以及累积劣化计算部，累积劣化计算部通过累积数据电压的函数的劣化数据来计算累积劣化。