[发明专利]一种高覆盖率的数据处理模块测试方法和装置

权利要求书

1.一种高覆盖率的数据处理模块测试方法，应用于机载高性能数据处理模块，所述模块包括：处理器、桥接器和内存；所述桥接器分别与所述处理器和所述内存通信；其特征在于，所述方法包括：

采用边界扫描仿真器通过处理器JTAG接口，对所述处理器内部功能模块、所述处理器总线进行测试；

若可以通过处理器总线访问桥接器，则通过处理器JTAG接口对所述桥接器寄存器进行测试；若无法通过处理器总线访问桥接器，则通过处理器JTAG接口对处理器总线控制信号进行测试；

采用边界扫描仿真器通过桥接器JTAG接口对所述桥接器和内存进行测试。

2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述对所述处理器总线进行测试包括：

在所述处理器内部功能模块测试通过时，通过所述处理器总线对所述桥接器的寄存器进行读写，验证所述处理器总线功能完整性。

3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述通过所述处理器总线对所述桥接器的寄存器进行读写，验证所述处理器总线功能完整性，包括：

采用边界扫描仿真器通过边界扫描对所述处理器总线控制信号、数据信号、地址信号各自对应的管脚进行置高/低，编写处理器总线访问序列；

处理器机载所述处理总线访问序列，完成向所述桥接器寄存器发送测试数据以及从所述桥接器寄存器中读取存储数据；

比较发送的测试数据和读取的存储数据，验证所述处理器总线功能完整性。

4.根据权利要求3所述的方法，其特征在于，所述方法还包括：

若发送的测试数据和读取的存储数据均不一致，确定无法通过处理器总线访问桥接器。

5.根据权利要求4所述的方法，其特征在于，所述通过处理器JTAG接口对处理器总线控制信号进行测试，包括：

采用边界扫描仿真器通过边界扫描对所述处理器总线控制信号对应的管脚进行置高/低，检测处理器总线控制信号对应的管脚上的信号。

6.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述机载高性能数据处理模块还包括：FPGA；所述FPGA和所述桥接器通信连接；所述方法还包括：

采用边界扫描仿真器通过FPGA的JTAG接口，对所述FPGA的内部资源和外部接口进行测试。

7.一种高覆盖率的数据处理模块测试装置，应用于机载高性能数据处理模块，所述模块包括：处理器、桥接器和内存；所述桥接器分别与所述处理器和所述内存通信；其特征在于，所述装置包括：

第一测试模块，用于采用边界扫描仿真器通过处理器JTAG接口，对所述处理器内部功能模块、所述处理器总线进行测试；

第二测试模块，用于若可以通过处理器总线访问桥接器，则通过处理器JTAG接口对所述桥接器寄存器进行测试；若无法通过处理器总线访问桥接器，则通过处理器JTAG接口对处理器总线控制信号进行测试；

第三测试模块，用于采用边界扫描仿真器通过桥接器JTAG接口对所述桥接器和内存进行测试。

8.根据权利要求7所述的装置，其特征在于，所述第一测试模块具体用于：

在所述处理器内部功能模块测试通过时，通过所述处理器总线对所述桥接器的寄存器进行读写，验证所述处理器总线功能完整性。