[发明专利]一种高覆盖率的数据处理模块测试方法和装置

说明书

本发明提供了一种高覆盖率的数据处理模块测试方法和装置，通过JTAG接口，用边界扫描技术接管处理器各管脚，对各个管脚发出测试编码，加载测试用例，验证处理器和桥接的功能；通过JTAG接口扫描桥接器管脚，访问桥接器配置资源，用测试序列对内存进行读写测试。本发明配置灵活、测试设备便携、操作简单，适用于外场故障定位和对外技术输出。只用加载测试用例目标码就可以完成故障定位，不用泄露模块各种软件资源，大大提高了数据处理模块的测试覆盖率。

技术领域

本发明属于航空测试技术领域，具体涉及一种高覆盖率的数据处理模块测试方法和装置。

背景技术

航空电子系统中机载高性能数据处理模块功能复杂，集成度高，多采用BGA封装形式芯片，导致其测试难、排故难、定位难，简单便携覆盖率高的测试技术可以提升工作效率、及时响应用户需求。

传统的高性能数据处理模块排故，一般需要模块返厂，先观察串口打印信息。如果有打印信息提示就可以定位到相应的功能电路，若处理器、桥接器或内存出现问题则串口无输出，除非借助处理器模块开发工具开发，否则现有测试技术无法完成故障进一步定位。

这样的测试排故过程花费时间多，维修周期长，对于一些出口外贸机型就完全无法满足用户需求。即使返厂由课题组人员排故，采用开发工具进行检测，故障范围缩小到处理器和桥接器之间后，以现有技术手段仍很难进一步定位。

发明内容

本发明提出了一种高覆盖率的数据处理模块测试方法和装置，可对高性能数据处理模块的资源测试；在测试报故的情况下进一步定位至芯片功能单元或故障管脚。

本发明提供一种高覆盖率的数据处理模块测试方法，应用于机载高性能数据处理模块，所述模块包括：处理器、桥接器和内存；所述桥接器分别与所述处理器和所述内存通信；所述方法包括：

采用边界扫描仿真器通过处理器JTAG接口，对所述处理器内部功能模块、所述处理器总线进行测试；

若可以通过处理器总线访问桥接器，则通过处理器JTAG接口对所述桥接器寄存器进行测试；若无法通过处理器总线访问桥接器，则通过处理器JTAG接口对处理器总线控制信号进行测试；

采用边界扫描仿真器通过桥接器JTAG接口对所述桥接器和内存进行测试。

可选的，所述对所述处理器总线进行测试包括：

在所述处理器内部功能模块测试通过时，通过所述处理器总线对所述桥接器的寄存器进行读写，验证所述处理器总线功能完整性。

可选的，所述通过所述处理器总线对所述桥接器的寄存器进行读写，验证所述处理器总线功能完整性，包括：

采用边界扫描仿真器通过边界扫描对所述处理器总线控制信号、数据信号、地址信号各自对应的管脚进行置高/低，编写处理器总线访问序列；

处理器机载所述处理总线访问序列，完成向所述桥接器寄存器发送测试数据以及从所述桥接器寄存器中读取存储数据；

比较发送的测试数据和读取的存储数据，验证所述处理器总线功能完整性。

可选的，所述高覆盖率的数据处理模块测试方法还包括：

若发送的测试数据和读取的存储数据均不一致，确定无法通过处理器总线访问桥接器。

可选的，所述通过处理器JTAG接口对处理器总线控制信号进行测试，包括：

采用边界扫描仿真器通过边界扫描对所述处理器总线控制信号对应的管脚进行置高/低，检测处理器总线控制信号对应的管脚上的信号。

可选的，所述机载高性能数据处理模块还包括：FPGA；所述FPGA和所述桥接器通信连接；所述方法还包括：