[发明专利]一种低熔点、易挥发含能材料的动态测压热分析方法

权利要求书

1.一种低熔点、易挥发含能材料的动态测压热分析方法，其特征在于：所述方法步骤包括：

(1)将所述含能材料装入密闭的反应测试管中，所述反应测试管内设置有压力传感器和温度传感器，所述含能材料不与压力传感器和温度传感器接触；

(2)将所述反应测试管置于低温环境下进行冷冻处理，冷冻结束后将反应测试管内抽真空至压力小于10Pa，待反应测试管内的压力稳定后，记录反应测试管内的压力和温度；

(3)将所述反应测试管从低温环境中取出并置于加热炉中进行加热，加热至待分析温度下保温，在线实时记录反应测试管内的压力和温度；对所述压力进行标准化和归一化处理，得到处理后的压力值；

(4)另外称取所述含能材料，采用TGA法测试得到所述含能材料在不同温度下的挥发量并计算得到相应的蒸气压值；

(5)将同一温度下的处理后的压力值减去蒸气压值，得到由于所述含能材料分解而导致的压力增加值数据，所述数据用于对所述含能材料进行热分析。

2.如权利要求1所述的一种低熔点、易挥发含能材料的动态测压热分析方法，其特征在于：所述低熔点、易挥发含能材料为室温下为液体的含能材料、黏稠状含能材料、熔点小于等于100℃的固体含能材料或敏感型含能材料。

3.如权利要求1所述的一种低熔点、易挥发含能材料的动态测压热分析方法，其特征在于：步骤(1)对所述反应测试管进行氮气置换后再将装入所述含能材料。

4.如权利要求1所述的一种低熔点、易挥发含能材料的动态测压热分析方法，其特征在于：步骤(2)中将所述反应测试管置于液氮中进行凝固。

5.如权利要求1所述的一种低熔点、易挥发含能材料的动态测压热分析方法，其特征在于：步骤(3)中加热时升温速率为1～5℃/min。