[发明专利]IC芯片检测装置

权利要求书

1.一种IC芯片检测装置，其特征在于，包括：

机台，包括顶部的顶板和侧面的斜板，所述顶板与地面平行，顶板和所述斜板夹角为钝角；

上料机构，设置在所述机台上，用于运输IC芯片；

检测机构，设置在所述斜板上，且位于所述上料机构下方，用于对上料机构运输过来的IC芯片进行检测；以及

收料机构，设置在所述斜板上，且位于所述检测机构下方，用于接收检测机构检测后的IC芯片并分类收纳；

其中，所述检测机构包括检测轨道、引脚光源、字符光源、背光源、视觉检测支架、摄像头和检测台，所述检测轨道设置在所述斜板上，所述引脚光源连接所述字符光源，且位于检测轨道上方，所述背光源设置在所述检测轨道下方，字符光源用于检测IC芯片字符时发光，引脚光源和背光源用于检测IC芯片引脚时发光，所述视觉检测支架连接在所述斜板上，包括光源支架固定座和摄像头固定座，所述摄像头固定座位于所述光源支架固定座上方，所述摄像头连接在所述摄像头固定座上，用于摄像检测，所述检测台设置在所述斜板上，靠近所述视觉检测支架，所述检测轨道设置在所述检测台上，用于固定IC芯片接受检测；

所述检测轨道中部设置有真空吸孔，所述真空吸孔设置在远离所述背光源一侧，真空吸孔用于保障IC芯片检测时不会移动，检测轨道上设置有检测光电感应器，所述检测光电感应器靠近真空吸孔，检测光电感应器用于感应检测轨道上是否有IC芯片；

所述检测台上设置有棱镜固定板和棱镜，所述棱镜设置在所述检测轨道两侧，棱镜设置在检测轨道和所述背光源之间，棱镜连接在所述棱镜固定板上，检测轨道用于固定IC芯片接受检测，棱镜用于折射背光源的光到IC芯片的引脚。

2.根据权利要求1所述的IC芯片检测装置，其特征在于，所述字符光源包括：

字符光源壳，圆环状，内部镂空，一端开口；

字符光源板，圆环状，设置在所述字符光源壳底部内壁上，用于固定灯珠；

字符光源压块，圆环状，连接在所述字符光源壳上，用于将所述字符光源板固定在字符光源壳内；

偏光镜，连接在所述字符光源压块远离字符光源板一端，用于调整清晰度；以及

字符光源盖板，连接在所述字符光源压块远离字符光源板一端，用于将所述偏光镜固定在字符光源板上。

3.根据权利要求1所述的IC芯片检测装置，其特征在于，所述引脚光源包括：

连接板，方形板，连接所述字符光源；

引脚光源壳，方形筒状，内部镂空，连接所述连接板，

LED电路板，包括环形LED电路板和块状LED电路板，所述环形LED电路板连接在所述连接板上，所述块状LED电路板连接在所述引脚光源壳内壁上；

引脚光源压板，连接在所述引脚光源壳远离所述连接板一端；

引脚光源盖板，连接在所述引脚光源压板远离所述连接板一端；以及

散光板，连接在所述引脚光源壳内部，多个所述散光板呈方形筒状，用于散光。

4.根据权利要求1所述的IC芯片检测装置，其特征在于，所述上料机构包括：

料管，用于放置IC芯片；

料管定位组件，设置在所述机台的顶板上一侧，用于存放所述料管；

上料推板组件，设置在所述机台的顶板上，用于运输所述料管定位组件内的料管；

运料轨道，设置在所述机台的斜板上，下端连接所述检测轨道，所述运料轨道的轴线和所述检测轨道的轴线在同一直线，用于运输IC芯片到检测检测轨道；

翻转组件，设置在所述机台的顶板和斜板的交接处中部，用于翻转料管将IC芯片运输到运料轨道上；

上料盒，凸出设置在所述顶板上，靠近所述料管定位组件，用于存放所述料管和IC芯片；以及

空料管盒，设置在所述顶板上，远离所述料管定位组件，包括容纳腔，所述容纳腔沿顶板板面向下凹陷，用于存放空料管。

5.根据权利要求4所述的IC芯片检测装置，其特征在于，所述料管定位组件包括料管夹，两个所述料管夹竖直设置在所述顶板上，料管夹上设置有卡槽和通槽，卡槽设置在料管夹侧面，通槽设置在料管夹下端，且连通卡槽，卡槽用于放置料管，通槽用于料管的滑出，所述通槽和卡槽呈L型，两个卡槽相对设置，两个通槽位于靠近所述翻转组件一侧。