[发明专利]一种卫星综合电子机内测试设计方法

权利要求书

1.一种卫星综合电子机内测试设计方法，其特征在于，包括以下步骤：

步骤1、根据综合电子单机物理功能划分和测试性要求，设计分层的BIT架构；

步骤2、对产品进行扩展FMEA分析，确定产品的故障模式以及选用测试点和测试点设计电路；

步骤3、优选测试点，筛选出对任务功能有显著影响的故障模式及其测试点；

步骤4、根据测试点特性，结合工程实践经验设计测试电路完成BIT设计。

2.根据权利要求1所述的卫星综合电子机内测试设计方法，其特征在于：所述步骤1中，设计的分层BIT架构包括单机BIT、模块BIT和元器件BIT，各层级之间通过总线连接；元器件BIT选择单机内部的电子元器件，以反映该元器件的健康状态，模块BIT实现对模块级电路的测试，单机BIT选择该单机，完成单机状态上报并得到其BIT状态。

3.根据权利要求2所述的卫星综合电子机内测试设计方法，其特征在于：所述步骤2中，对产品进行扩展FMEA分析时，增加了对测试点选择、测试点设计和BIT逻辑判据的三个方面分析，具体的：

(1)测试点选择：针对某特定故障模式，确定是否可以选择单机内部进行测试，如果可以，确定选择哪种测试参数进行测试，并将上述信息填写进扩展FMEA分析表格中；

(2)测试点设计：确定选择测试点具体电路设计形式，包括选用模拟式还是数字式、选择边界扫描还是存储器遍历；

(3)BIT逻辑判据：确定某特定故障发生后，如何通过BIT参数检测和判断该故障。

4.根据权利要求3所述的卫星综合电子机内测试设计方法，其特征在于：所述步骤3中，对产品进行扩展FMEA分析后，结合其严酷度类别、发生概率等级和工程实践经验，筛选出对任务功能有显著影响的故障模式及其测试点。

5.根据权利要求4所述的卫星综合电子机内测试设计方法，其特征在于：所述步骤3中提到的筛选方法为：以该器件故障模式发生时严酷度不低于III级且发生概率等级不低于D级作为选择依据。