[发明专利]电子元件品质检测筛分装置

权利要求书

1.电子元件品质检测筛分装置，包括筛分箱（1）和入料斗（2），所述入料斗（2）活动插接在筛分箱（1）的顶板上，其特征在于，所述入料斗（2）外缠绕连接有一号支撑弹簧（3），且一号支撑弹簧（3）的两端分别固定连接在入料斗（2）的外侧壁上和筛分箱（1）的外顶壁上，所述筛分箱（1）的底板上活动插接有出料斗（4），且出料斗（4）的外侧壁上固定连接有若干个二号支撑弹簧（5）的一端，且二号支撑弹簧（5）的另一端固定连接在筛分箱（1）的内底壁上，所述筛分箱（1）的侧壁活动插接有一号转动杆（9），且一号转动杆（9）的一端与驱动电机（6）相连接，所述驱动电机（6）外固定套设有固定环（7），且固定环（7）通过一号L型支撑杆（8）固定设置在筛分箱（1）的外侧壁上，所述一号转动杆（9）的另一端固定连接有一号抵触板（10），且一号抵触板（10）的左视图呈椭圆形结构，所述一号抵触板（10）的上端抵触设置有筛分机构（11）；

所述筛分机构（11）包括抵触杆（111）和筛分网（112），所述筛分网（112）固定套设在抵触杆（111）外，且筛分网（112）设置有多组，多组所述筛分网（112）上均开设有若干个泄露孔（113），所述筛分箱（1）的侧壁上开设有与筛分网（112）相匹配的取料孔（114），且取料孔（114）内设置有倾斜导料板（115），所述筛分网（112）的两端均固定连接有支撑滑块（116），且支撑滑块（116）滑动设置在支撑滑槽（117）内，所述支撑滑槽（117）开设在筛分箱（1）的内侧壁上，所述支撑滑块（116）的下端上连接有一号导向组件（118），且一号导向组件（118）的下端固定连接在支撑滑槽（117）的底壁上；

所述筛分箱（1）外设置有敲击机构（12），所述敲击机构（12）包括一号皮带轮（121）、传送皮带（122）和二号皮带轮（123），所述一号皮带轮（121）固定套设在一号转动杆（9）外，所述一号皮带轮（121）和二号皮带轮（123）通过传送皮带（122）传动连接，所述二号皮带轮（123）固定套设在二号转动杆（124）外，且二号转动杆（124）活动插接在一号支撑板（125）上，所述一号支撑板（125）固定设置在筛分箱（1）的外顶壁上，所述二号转动杆（124）外固定套设有缺齿轮（127），且缺齿轮（127）与两组平行直齿条（128）交替啮合，两组所述直齿条（128）对称固定设置在支撑环（129）的内侧壁上，所述支撑环（129）的下端固定连接有二号导向组件（1211），且二号导向组件（1211）固定设置在筛分箱（1）的外顶壁上，所述支撑环（129）远离二号皮带轮（123）的一端连接有二号L型支撑杆（1210），且二号L型支撑杆（1210）的自由端固定连接在入料斗（2）的外侧壁上，二号转动杆（124）的侧壁上连接有二号抵触板（1212），二号抵触板（1212）的正下方匹配设置有推动杆（1213），且推动杆（1213）活动插接于二号支撑板（1214），二号支撑板（1214）固定设置在筛分箱（1）的外顶壁上，且推动杆（1213）上缠绕连接有三号支撑弹簧（1215），三号支撑弹簧（1215）的两端分别固定连接在推动杆（1213）的侧壁上和二号支撑板（1214）的侧壁上，推动杆（1213）靠近入料斗（2）的一端连接有敲击球（1216）。

2.如权利要求1所述的电子元件品质检测筛分装置，其特征在于：所述筛分网（112）的数量至少设置有三个，且若干个筛分网（112）上开设的泄露孔（113）大小不一致，且从上往下依次减小。

3.如权利要求1所述的电子元件品质检测筛分装置，其特征在于：所述一号导向组件（118）包括一号导向杆（1181）、一号导向筒（1182）和一号导向弹簧（1183），所述一号导向杆（1181）活动插接在一号导向筒（1182）内，所述一号导向弹簧（1183）缠绕连接在一号导向杆（1181）外，且一号导向弹簧（1183）的两端分别固定连接在一号导向杆（1181）的侧壁上和一号导向筒（1182）的外侧壁上。