[发明专利]电子元件品质检测筛分装置有效

专利信息
申请号: 202011384328.X 申请日: 2020-12-01
公开(公告)号: CN112570271B 公开(公告)日: 2022-05-17
发明(设计)人: 杨旭方;李慧 申请(专利权)人: 杨旭方;李慧
主分类号: B07B1/34 分类号: B07B1/34;B07B1/46
代理公司: 重庆市诺兴专利代理事务所(普通合伙) 50239 代理人: 卢玲
地址: 510000 广东*** 国省代码: 广东;44
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摘要:
搜索关键词: 电子元件 品质 检测 筛分 装置
【说明书】:

发明涉及电子元件品质检测筛分装置,包括筛分箱和入料斗,所述入料斗活动插接在筛分箱的顶板上,所述入料斗外缠绕连接有一号支撑弹簧;本发明通过震动作用对电子元件进行筛分,并且设置多组筛分网,从而可以实现不同直径的电子元件的筛分,进而使得电子元件筛分的更加精准,并且通过震动筛分的方式,可以加快电子元件筛分的速度,从而提供工作效率,在设置时,入料斗和出料斗与筛分箱均活动设置,因此在震动的过程中,入料斗和出料斗均能发生运动,从而在实际工作过程中,二者的运动,可以有效起到防堵的效果,从而使得该设备的使用更加的便捷和高效,因此具有更高的市场前景。

技术领域

本发明涉及电子元件技术领域,具体涉及电子元件品质检测筛分装置。

背景技术

电子元件是电子电路中的基本元素,通常是个别封装,并具有两个或以上的引线或金属接点,电子元件须相互连接以构成一个具有特定功能的电子电路,例如放大器、无线电接收机和振荡器等,连接电子元件常见的方式之一是焊接到印刷电路板上,电子元件也许是单独的封装,或是各种不同复杂度的群组,当电子元件在成产完成后,往往规格不同以及品质不一的电子元件将会混在一起,故而需要对电子元件进行检测筛分,但是现有的筛分装置在进行筛分时效率低,且筛分时间长,操作复杂,浪费工作时间,并且现有的筛分装置,也存在进料斗和出料斗电子元件被堵住的风险。

为了解决上述问题,本发明中提出了电子元件品质检测筛分装置。

发明内容

(1)要解决的技术问题

本发明的目的在于克服现有技术的不足,适应现实需要,提供电子元件品质检测筛分装置,以解决上述技术问题。

(2)技术方案

为了实现本发明的目的,本发明所采用的技术方案为:

电子元件品质检测筛分装置,包括筛分箱和入料斗,所述入料斗活动插接在筛分箱的顶板上,所述入料斗外缠绕连接有一号支撑弹簧,且一号支撑弹簧的两端分别固定连接在入料斗的外侧壁上和筛分箱的外顶壁上,所述筛分箱的底板上活动插接有出料斗,且出料斗的外侧壁上固定连接有若干个二号支撑弹簧的一端,且二号支撑弹簧的另一端固定连接在筛分箱的内底壁上,所述筛分箱的侧壁活动插接有一号转动杆,且一号转动杆的一端与驱动电机相连接,所述驱动电机外固定套设有固定环,且固定环通过一号L型支撑杆固定设置在筛分箱的外侧壁上,所述一号转动杆的另一端固定连接有一号抵触板,且一号抵触板的左视图呈椭圆形结构,所述一号抵触板的上端抵触设置有筛分机构。

进一步地,所述筛分机构包括抵触杆和筛分网,所述筛分网固定套设在抵触杆外,且筛分网设置有多组,多组所述筛分网上均开设有若干个泄露孔,所述筛分箱的侧壁上开设有与筛分网相匹配的取料孔,且取料孔内设置有倾斜导料板,所述筛分网的两端均固定连接有支撑滑块,且支撑滑块滑动设置在支撑滑槽内,所述支撑滑槽开设在筛分箱的内侧壁上,所述支撑滑块的下端上连接有一号导向组件,且一号导向组件的下端固定连接在支撑滑槽的底壁上。

进一步地,所述筛分网的数量至少设置有三个,且若干个筛分网上开设的泄露孔大小不一致,且从上往下依次减小。

进一步地,所述一号导向组件包括一号导向杆、一号导向筒和一号导向弹簧,所述一号导向杆活动插接在一号导向筒内,所述一号导向弹簧缠绕连接在一号导向杆外,且一号导向弹簧的两端分别固定连接在一号导向杆的侧壁上和一号导向筒的外侧壁上。

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