[发明专利]一种集成电路测试多工位定位装置

权利要求书

1.一种集成电路测试多工位定位装置，包括有底板(1)，其特征在于，所述底板(1)顶部的左右两侧均固定连接有支撑板(2)，其中一个所述支撑板(2)的左侧固定连接有连接板(3)，所述连接板(3)的顶部固定连接有电机(4)，两个所述支撑板(2)相对一侧的顶部和底部之间分别转动连接有第一螺纹杆(5)和第二螺纹杆(6)，所述第一螺纹杆(5)和第二螺纹杆(6)的外表面均螺纹连接有螺纹套(7)，两个所述螺纹套(7)相对的一侧之间固定连接有安装框(8)。

2.根据权利要求1所述的一种集成电路测试多工位定位装置，其特征在于，所述安装框(8)的左右两侧均固定连接有条形块(39)，两个所述条形块(39)的正面均固定连接有固定块(9)，两个所述固定块(9)相对的一侧均固定连接有第一挂钩块(10)，所述第一挂钩块(10)的一侧连接有挂钩弹簧(11)，所述挂钩弹簧(11)的一端连接有第二挂钩块(12)，所述第二挂钩块(12)的一侧固定连接有夹板(13)。

3.根据权利要求2所述的一种集成电路测试多工位定位装置，其特征在于，所述安装框(8)的内壁顶端通过第一支块(14)固定连接有第一滑杆(15)，所述第一滑杆(15)的外表面滑动连接有第一滑块(16)，所述第一滑块(16)的底部与夹板(13)的顶部固定连接，所述安装框(8)的内壁底端通过第二支块(17)固定连接有第二滑杆(18)，所述第二滑杆(18)的外表面滑动连接有第二滑块(19)，所述第二滑块(19)的顶部与夹板(13)的底部固定连接，两个所述夹板(13)相对一侧的底部均固定连接有放置块(20)。

4.根据权利要求3所述的一种集成电路测试多工位定位装置，其特征在于，两个所述第二滑块(19)的底部均固定连接有第一转动块(21)，两个所述第一转动块(21)的内部均转动连接有转动杆(22)，两个所述转动杆(22)的底端均转动连接有第二转动块(23)，所述第二转动块(23)的底部固定连接有活动杆(24)。

5.根据权利要求4所述的一种集成电路测试多工位定位装置，其特征在于，位于下方的所述螺纹套(7)的正面固定连接有固定套(25)，所述固定套(25)的内表面与活动杆(24)的外表面滑动连接，所述活动杆(24)的外表面开设有限位孔(26)，所述固定套(25)的内部插设有限位柱(27)，所述限位柱(27)的外表面与限位孔(26)的内表面卡接，所述活动杆(24)的底端固定连接有把手(28)。

6.根据权利要求1所述的一种集成电路测试多工位定位装置，其特征在于，所述电机(4)的输出端固定连接有第一皮带轮(29)，所述第一皮带轮(29)的中心轴与第二螺纹杆(6)的左端固定连接，所述第一螺纹杆(5)的左端固定连接有第二皮带轮(30)，所述第二皮带轮(30)通过皮带(31)与第一皮带轮(29)传动连接。

7.根据权利要求1所述的一种集成电路测试多工位定位装置，其特征在于，所述底板(1)顶部的左右两侧均固定连接有导向杆(32)，两个所述导向杆(32)的外表面均滑动连接有滑动块(33)，两个所述滑动块(33)相对的一侧均固定连接有测试装置(34)，所述底板(1)的顶部且位于测试装置(34)的正下方安装有升降装置(35)。

8.根据权利要求7所述的一种集成电路测试多工位定位装置，其特征在于，所述升降装置(35)包括有矩形框(351)，所述矩形框(351)内腔的底部固定连接有滑轨(352)，所述滑轨(352)外表面的左右两侧均滑动连接有活动块(353)，两个所述活动块(353)相对的一侧之间通过电动伸缩杆(354)固定连接，两个活动块(353)的顶部均转动连接有转动架(355)，两个转动架(355)之间通过中心轴(356)转动连接，两个所述转动架(355)的顶部均转动连接有矩形块(357)，两个所述矩形块(357)之间通过连接架(358)固定连接，两个所述矩形块(357)的顶部与测试装置(34)的底部固定连接。

9.根据权利要求7所述的一种集成电路测试多工位定位装置，其特征在于，所述测试装置(34)包括有定位探头(36)、定位处理箱(37)和定位器(38)。