[发明专利]一种集成电路测试多工位定位装置在审
申请号: | 202011397235.0 | 申请日: | 2020-12-03 |
公开(公告)号: | CN112485479A | 公开(公告)日: | 2021-03-12 |
发明(设计)人: | 厉纪成 | 申请(专利权)人: | 瑞安市宏创科技有限公司 |
主分类号: | G01R1/04 | 分类号: | G01R1/04;G01R31/28 |
代理公司: | 杭州高盟专利代理事务所(普通合伙) 33402 | 代理人: | 单燕君 |
地址: | 325200 浙江省温州市瑞安市仙*** | 国省代码: | 浙江;33 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 集成电路 测试 多工位 定位 装置 | ||
本发明公开了一种集成电路测试多工位定位装置,包括有底板,所述底板顶部的左右两侧均固定连接有支撑板,其中一个所述支撑板的左侧固定连接有连接板,所述连接板的顶部固定连接有电机,两个所述支撑板相对一侧的顶部和底部之间分别转动连接有第一螺纹杆和第二螺纹杆,所述第一螺纹杆和第二螺纹杆的外表面均螺纹连接有螺纹套,两个所述螺纹套相对的一侧之间固定连接有安装框,本发明通过电机、第一皮带轮和第二皮带轮之间的配合可以带动第一螺纹杆和第二螺纹杆同时转动,便可以带动安装框进行左右移动,方便实现对被测集成电路的安装定位,提高了对集成电路的测试效率。
技术领域
本发明涉及集成电路技术领域,具体是一种集成电路测试多工位定位装置。
背景技术
集成电路是一种微型电子器件或部件。采用一定的工艺,把一个电路中所需的晶体管、电阻、电容和电感等元件及布线互连一起,制作在一小块或几小块半导体晶片或介质基片上,然后封装在一个管壳内,成为具有所需电路功能的微型结构;其中所有元件在结构上已组成一个整体,使电子元件向着微小型化、低功耗、智能化和高可靠性方面迈进了一大步。它在电路中用字母“IC”表示。
集成电路的生产需要经过多项测试,测试的工作量比较大,需要每次都需要对集成电路设备进行定位方能进行测试,需要参与的人工工作量较大,效率也比较低下,且对于集成电路的拆卸也比较麻烦,为此本发明提供一种集成电路测试多工位定位装置。
发明内容
本发明的目的在于提供一种集成电路测试多工位定位装置,以解决上述背景技术中提出的问题。
为了解决上述技术问题,本发明提供了如下的技术方案:
本发明提供一种集成电路测试多工位定位装置,包括有底板,所述底板顶部的左右两侧均固定连接有支撑板,其中一个所述支撑板的左侧固定连接有连接板,所述连接板的顶部固定连接有电机,两个所述支撑板相对一侧的顶部和底部之间分别转动连接有第一螺纹杆和第二螺纹杆,所述第一螺纹杆和第二螺纹杆的外表面均螺纹连接有螺纹套,两个所述螺纹套相对的一侧之间固定连接有安装框。
作为本发明的一种优选技术方案:所述安装框的左右两侧均固定连接有条形块,两个所述条形块的正面均固定连接有固定块,两个所述固定块相对的一侧均固定连接有第一挂钩块,所述第一挂钩块的一侧连接有挂钩弹簧,所述挂钩弹簧的一端连接有第二挂钩块,所述第二挂钩块的一侧固定连接有夹板。
作为本发明的一种优选技术方案:所述安装框的内壁顶端通过第一支块固定连接有第一滑杆,所述第一滑杆的外表面滑动连接有第一滑块,所述第一滑块的底部与夹板的顶部固定连接,所述安装框的内壁底端通过第二支块固定连接有第二滑杆,所述第二滑杆的外表面滑动连接有第二滑块,所述第二滑块的顶部与夹板的底部固定连接,两个所述夹板相对一侧的底部均固定连接有放置块。
作为本发明的一种优选技术方案:两个所述第二滑块的底部均固定连接有第一转动块,两个所述第一转动块的内部均转动连接有转动杆,两个所述转动杆的底端均转动连接有第二转动块,所述第二转动块的底部固定连接有活动杆。
作为本发明的一种优选技术方案:位于下方的所述螺纹套的正面固定连接有固定套,所述固定套的内表面与活动杆的外表面滑动连接,所述活动杆的外表面开设有限位孔,所述固定套的内部插设有限位柱,所述限位柱的外表面与限位孔的内表面卡接,所述活动杆的底端固定连接有把手。
作为本发明的一种优选技术方案:所述电机的输出端固定连接有第一皮带轮,所述第一皮带轮的中心轴与第二螺纹杆的左端固定连接,所述第一螺纹杆的左端固定连接有第二皮带轮,所述第二皮带轮通过皮带与第一皮带轮传动连接。
作为本发明的一种优选技术方案:所述底板顶部的左右两侧均固定连接有导向杆,两个所述导向杆的外表面均滑动连接有滑动块,两个所述滑动块相对的一侧均固定连接有测试装置,所述底板的顶部且位于测试装置的正下方安装有升降装置。
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