[发明专利]基板对组标记方法及其显示面板、显示装置有效

专利信息
申请号: 202011408247.9 申请日: 2020-12-03
公开(公告)号: CN112327534B 公开(公告)日: 2022-07-12
发明(设计)人: 廖辉华 申请(专利权)人: 深圳市华星光电半导体显示技术有限公司
主分类号: G02F1/1333 分类号: G02F1/1333
代理公司: 深圳紫藤知识产权代理有限公司 44570 代理人: 裴磊磊
地址: 518132 广东省深*** 国省代码: 广东;44
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摘要:
搜索关键词: 标记 方法 及其 显示 面板 显示装置
【权利要求书】:

1.一种基板对组标记的制备方法,其特征在于,包括以下步骤:

提供具有BM(黑色矩阵)标记的CF(彩色滤光片)基板;将所述具有BM标记的CF基板作为基准玻璃基板;所述基准玻璃基板上包括多个BM标记;

提供基于BPS(黑色膜柱)工艺制备的CF基板;将所述基于BPS工艺制备的CF基板作为待标记CF基板;

基于所述基准玻璃基板上的各个所述BM标记的BM标记位置,在所述待标记CF基板上分别制备一一对应各所述BM标记的各个LOC(氧化铟锡激光切割)标记,使得各所述BM标记位置与各对应所述LOC标记的LOC标记位置一一对应重合。

2.根据权利要求1所述的基板对组标记的制备方法,其特征在于,所述在所述待标记CF基板上分别制备一一对应各所述BM标记的各个LOC标记的步骤包括:

采用LOC机台,在所述待标记CF基板上分别激光制备一一对应各所述BM标记的各个LOC标记。

3.根据权利要求1所述的基板对组标记的制备方法,其特征在于,所述在所述待标记CF基板上分别制备一一对应各所述BM标记的各个LOC标记的步骤之后包括:

若所述LOC标记位置与所述BM标记位置存在差异,补偿相应存在差异的所述LOC标记位置,直至各所述BM标记位置与各对应所述LOC标记的LOC标记位置一一对应重合。

4.根据权利要求1所述的基板对组标记的制备方法,其特征在于,所述BM标记的数量为至少2个;所述LOC标记的数量为至少2个。

5.根据权利要求1所述的基板对组标记的制备方法,其特征在于,所述基准玻璃基板的尺寸与所述待标记CF基板的尺寸相同。

6.一种显示面板,其特征在于,包括采用如权利要求1至5中任一项所述的基板对组标记的制备方法制备得到的各个LOC标记。

7.一种显示装置,其特征在于,包括如权利要求6所述的显示面板。

8.根据权利要求7所述的显示装置,其特征在于,所述显示面板为液晶显示面板。

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