[发明专利]基板对组标记方法及其显示面板、显示装置

说明书

本申请公开了一种基板对组标记的制备方法及其显示面板、显示装置，该方法包括：提供具有BM标记的CF基板；将具有BM标记的CF基板作为基准玻璃基板；基准玻璃基板上包括多个BM标记；提供基于BPS工艺制备的CF基板；将基于BPS工艺制备的CF基板作为待标记CF基板；基于基准玻璃基板上的各个BM标记的BM标记位置，在待标记CF基板上分别制备一一对应各BM标记的各个LOC标记，使得各BM标记位置与各对应LOC标记的LOC标记位置一一对应重合，进而改善LOC产品单独制造时因玻璃精度差异导致的标记(mark)偏移，达到Cell制程正常且精准的对组需求，提升BPS产品的LOC标记精度，改善Cell制程的对组精度，减少了破片率，且提升了良率。

技术领域

本申请涉及显示技术领域，更具体地说，涉及一种基板对组标记方法及其显示面板、显示装置。

背景技术

BPS(Black Photo Spacer，黑色膜柱)技术是LCD(Liquid Crystal Display，液晶显示器)技术中一种把BM(Black Matrix，黑色矩阵)和PS(间隙控制)两道制程合成一道制程的技术，其工艺流程(flow)因无CF(Color Filter，彩色滤光片)BM制程，Cell PI(polyimide，聚酰亚胺)工艺或对组等标记(Mark)均需使用LOC机台(氧化铟锡激光切割机)制作，Cell制程通过读取TFT/CF mark，达到识别玻璃位置状况，实现对组。但LOC机台抓边通常采用机械抓边，制作的Mark位置相对偏移较大，在Cell制程的TFT(Thin FilmTransistor，薄膜晶体管)/CF板贴合对组时无法找到CF侧制作的全部mark，导致无法正常对组，盲对导致的TFT/CF板相对位置偏移引发后续制程发生破片，导致良率降低。

在实现过程中，发明人发现传统技术中至少存在如下问题：目前的BPS产品Cell制程时TFT/CF板贴合对组无法找到CF侧制作的全部mark，导致无法正常对组，盲对导致的TFT/CF板相对位置偏移引发后续制程发生破片，导致良率降低。

发明内容

基于此，有必要目前的BPS产品Cell制程时TFT/CF板贴合对组无法找到CF侧制作的全部mark，导致无法正常对组，盲对导致的TFT/CF板相对位置偏移引发后续制程发生破片，导致良率降低的问题，提供一种基板对组标记的制备方法及其显示面板、显示装置。

为了实现上述目的，本发明实施例提供了一种基板对组标记的制备方法，包括以下步骤：

提供具有BM标记的CF基板；将具有BM标记的CF基板作为基准玻璃基板；基准玻璃基板上包括多个BM标记；

提供基于BPS工艺制备的CF基板；将基于BPS工艺制备的CF基板作为待标记CF基板；

基于基准玻璃基板上的各个BM标记的BM标记位置，在待标记CF基板上分别制备一一对应各BM标记的各个LOC标记，使得各BM标记位置与各对应LOC标记的LOC标记位置一一对应重合。

在其中一个实施例中，在待标记CF基板上分别制备一一对应各BM标记的各个LOC标记的步骤包括：

采用LOC机台，在待标记CF基板上分别激光制备一一对应各BM标记的各个LOC标记。

在其中一个实施例中，在待标记CF基板上分别制备一一对应各BM标记的各个LOC标记的步骤之后包括：

若LOC标记位置与BM标记位置存在差异，补偿相应存在差异的LOC标记位置，直至各BM标记位置与各对应LOC标记的LOC标记位置一一对应重合。

在其中一个实施例中，BM标记的数量至少2个；LOC标记的数量至少2个。

在其中一个实施例中，基准玻璃基板的尺寸与待标记CF基板的尺寸相同。